閃存芯片hast測試設備
【設備應用領域】
? ?閃存芯片hast測試設備廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試,對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進行測試。
【標準依據(jù)】
??? GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

【產(chǎn)品特點】
1)???? 采用進口耐高溫電磁閥雙路結構,在最大程度上降低了使用故障率。
2)???? 獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3)???? 門鎖省力結構,解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4)???? 試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5)???? 超長效實驗運轉時間,長時間實驗機臺運轉400小時.
6)???? 水位保護,透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7)???? tank耐壓設計,箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8)???? 二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9)???? 安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10)? 偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配)
11)? USB導出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.

【性能指標】
1.???? 設備型號:HE-HAST-40
2.???? 設定溫度:+100℃~+132℃( 蒸氣溫度 )??
3.???? 濕度范圍:70~100% 蒸氣濕度
4.???? 濕度控制穩(wěn)定度:±3%RH
5.???? 使用壓力:1.2~2.89kg(含1atm)
6.???? 時間范圍:0 Hr~999 Hr
7.???? 加壓時間:0.00 Kg~1.04 Kg / cm2? 約 45 分
8.???? 溫度波動均勻度 : ±0.5℃
9.???? 溫度顯示精度:0.1℃
10.?? 壓力波動均勻度 : ±0.1Kg
11.?? 濕度分布均度:±3%RH
【試驗箱材質】
1.? 試驗箱尺寸:直徑400mm x 深500(mm)圓型試驗箱
2.? 全機外尺寸:900x? 850 x 1800 mm ( W * D * H )立式
3.? 內桶材質:不銹鋼板材質(SUS# 316? 3 mm)
4.? 外桶材質:不銹鋼板材質或選噴塑
5.? 保溫材質:巖棉及硬質polyurethane發(fā)泡保溫
6.? 蒸汽發(fā)室加熱管:鈦管加熱,永不生銹。

【控制系統(tǒng)】
1)???? 采用臺制臺達彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(采用PT-100白金感溫體).
2)???? 采用指針顯示壓力表.
3)???? 微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.
4)???? 手動入水閥(自動補水功能,可不停機連續(xù)試驗).
5)???? 試驗數(shù)據(jù)記錄U盤導出,曲線查詢。