在做掃描電子顯微鏡（SEM）測試時，科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對SEM測試不太了解，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺團隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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樣品減薄技術(shù)

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復(fù)型技術(shù)只能對樣品表面性貌進行復(fù)制，不能揭示晶體內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)信息，受復(fù)型材料本身尺寸的限制，電鏡的高分辨率本領(lǐng)不能得到充分發(fā)揮，萃取復(fù)型雖然能對萃取物相作結(jié)構(gòu)分析，但對基體組織仍是表面性貌的復(fù)制。在這種情況下，樣品減薄技術(shù)具有許多特點，特別是金屬薄膜樣品： 可以最有效地發(fā)揮電鏡的高分辨率本領(lǐng)； 能夠觀察金屬及其合金的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和晶體缺陷，并能對同一微區(qū)進行衍襯成像及電子衍射研究，把性貌信息于結(jié)構(gòu)信息聯(lián)系起來； 能夠進行動態(tài)觀察，研究在變溫情況下相變的生核長大過程，以及位錯等晶體缺陷在引力下的運動與交互作用。

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表面復(fù)型技術(shù)

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所謂復(fù)型技術(shù)就是把金相樣品表面經(jīng)浸蝕后產(chǎn)生的顯微組織浮雕復(fù)制到一種很薄的膜上，然后把復(fù)制膜（叫做“復(fù)型”）放到透射電鏡中去觀察分析，這樣才使透射電鏡應(yīng)用于顯示金屬材料的顯微組織有了實際的可能。 用于制備復(fù)型的材料必須滿足以下特點： 本身必須是“無結(jié)構(gòu)”的（或“非晶體”的），也就是說，為了不干擾對復(fù)制表面形貌的觀察，要求復(fù)型材料即使在高倍（如十萬倍）成像時，也不顯示其本身的任何結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。 必須對電子束足夠透明（物質(zhì)原子序數(shù)低）； 必須具有足夠的強度和剛度，在復(fù)制過程中不致破裂或畸變； 必須具有良好的導(dǎo)電性，耐電子束轟擊； 最好是分子尺寸較小的物質(zhì)---分辨率較高。

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