ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)如何測量芯片的靜態(tài)功耗

? ? ? 靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流,是指芯片在靜止?fàn)顟B(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗對于芯片來說是衡量一款芯片的功耗與效率非常重要的指標(biāo)。

? ? ? 傳統(tǒng)手動(dòng)測試靜態(tài)功耗只需在芯片的輸入端串上一臺(tái)萬用表,然后對芯片各個(gè)端口添加合適的電壓即可測量出芯片的靜態(tài)電流,整個(gè)流程十分簡單,但是芯片的制作工藝極為復(fù)雜多樣,同時(shí)芯片規(guī)格也千變?nèi)f化,因此手動(dòng)測試在面對多批次、多規(guī)格的芯片測試時(shí)難免顧此失彼。很難保證測試的高效性和數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。所以芯片測試系統(tǒng)的使用就可以很明顯的避免這個(gè)問題。芯片的制作工藝極為復(fù)雜多樣,同時(shí)芯片規(guī)格也千變?nèi)f化,因此手動(dòng)測試在面對多批次、多規(guī)格的芯片測試時(shí)難免顧此失彼。

? ? ? 而納米軟件的ATECLOIUD-IC芯片測試系統(tǒng),測試靜態(tài)功耗只需先手動(dòng)連接線路,然后在測試系統(tǒng)中根據(jù)測試步驟搭建對應(yīng)的工步,然后運(yùn)行軟件可以完成整個(gè)測試,搭建過程只需2分鐘,而測試過程只需幾秒即可得出測試出結(jié)果,非常適用于大批量芯片測試,一次接線后就無需再次手動(dòng)變更參數(shù)、更換線路,系統(tǒng)可自動(dòng)完成參數(shù)配置、數(shù)據(jù)測量、數(shù)據(jù)讀取以及數(shù)據(jù)儲(chǔ)存,同時(shí)可以將數(shù)據(jù)結(jié)果一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告,極大的提升測試效率,避免出現(xiàn)數(shù)據(jù)錯(cuò)漏,提高測試準(zhǔn)確性。
? ? ? 雖然靜態(tài)功耗手動(dòng)測試也十分迅速,但是相對芯片自動(dòng)測試系統(tǒng)來說,系統(tǒng)的優(yōu)勢也相當(dāng)明顯,除了測試效率性、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,芯片測試系統(tǒng)還有大數(shù)據(jù)分析功能,系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)洞察模塊,可以對采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行整體分析和整理,可以將所有數(shù)據(jù)以折線圖或柱狀圖等形勢集中展示,為企業(yè)的發(fā)展和決策方向提供數(shù)據(jù)支持。