X-RAY檢查設(shè)備可以檢測(cè)哪些項(xiàng)目?-卓茂科技
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X射線檢測(cè)儀是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X光,快速檢測(cè)出被檢物。所以在部分行業(yè)中,X-RAY檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)的這一過(guò)程也有被稱為無(wú)損探傷檢測(cè)。利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透來(lái)檢測(cè)電子元器件、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì)、以及SMT各類型焊點(diǎn)焊接質(zhì)量等。
X-RAY檢查設(shè)備通常檢測(cè)的項(xiàng)目有:
1、集成電路的封裝工藝檢測(cè):層剝離、開(kāi)裂、空洞和打線工藝;
2、印刷電路板制造工藝檢測(cè):焊線偏移,橋接,開(kāi)路;
3、表面貼裝工藝焊接性檢測(cè):焊點(diǎn)空洞的檢測(cè)和測(cè)量;
4、連接線路檢查:開(kāi)路,短路,異?;虿涣歼B接的缺陷;
5、錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗(yàn);
6、高密度的塑料材質(zhì)破裂或金屬材質(zhì)檢驗(yàn);

7、芯片尺寸量測(cè),打線線弧量測(cè),組件吃錫面積比例量測(cè)等。
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