vsm測(cè)試樣品要求
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樣品要求
試樣可為塊體、薄膜/薄帶、粉末;
1塊體:試樣取長(zhǎng)直的形狀,以使其退磁場(chǎng)不致影響試樣磁化到飽和,并且形狀效應(yīng)對(duì)矯頑力的測(cè)量不產(chǎn)生顯著誤差(如采用圓柱形試樣,推薦長(zhǎng)徑比大于5:1)。為確保樣品沿長(zhǎng)尺寸方向磁化,采用薄膜樣品杯。樣品尺寸不大于室溫薄膜樣品杯尺寸。
2 薄膜/薄帶:樣品尺寸不超過室溫薄膜樣品杯尺寸(推薦試樣長(zhǎng)寬比大于5:1)。測(cè)試時(shí)磁場(chǎng)沿著薄膜的平行方向。
3 粉末:采用電子分析天平稱取一定質(zhì)量的干燥粉末樣品;為防止污染樣品杯,粉末樣品用非磁性塑料皮包裹后再放入樣品杯中壓實(shí)。粒徑不超過0.5mm;包好后的粉末樣品最大尺寸不超過室溫粉末樣品杯的尺寸。
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