1范圍
GB/T 5170的本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓,低溫低氣樂和高溫低氣壓)試業(yè)設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備")的檢驗項日,檢驗用儀器及要求、檢驗負載,檢驗條件、檢驗方法,檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于對 GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26 所用設(shè)備的檢驗。木部分也運用于類似設(shè)備的檢驗。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的,凡是注H期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注H期的引用文件,其最新版木(包插所有的修改單>適用于本文件。
GB/T 2423.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試監(jiān)第﹖部分,試監(jiān)方法試驗M,低氣壓
GB/I2423.25’電工電于產(chǎn)實環(huán)墻試監(jiān)第⒉部分,試監(jiān)方法試粒L/AM:低M/低氣肽你合試檢
GB/T 2423.26，電T電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第⒉部分,試監(jiān)方法︰試監(jiān)Z/BM;高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 5170.1—2016電T電子產(chǎn)品環(huán)墻試監(jiān)設(shè)備檢監(jiān)方法第1部分。總則GB 1234E—2008工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排效標準
3術(shù)語和定義
GB/T 5170.1—2016界定的術(shù)語和定義適用于本文件。