在做透射電子顯微鏡（TEM測(cè)試）時(shí)，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，大多數(shù)同學(xué)對(duì)tem測(cè)試樣品不是很理解，針對(duì)此，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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測(cè)試樣品要求

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制備好的TEM樣品必須對(duì)電子束透明，大多數(shù)情況下，都希望樣品均勻減薄，在電子束照射下穩(wěn)定，具有良好的導(dǎo)電性并且不帶磁性，但事實(shí)上很多樣品并不能全部滿足這些條件，因此需采取各種方法來使其達(dá)到要求。普通樣品一般是放在支撐環(huán)或者薄墊圈上，而較為復(fù)雜的自支撐樣品則需要進(jìn)行減薄等前處理，處理費(fèi)用往往遠(yuǎn)高于電鏡觀察費(fèi)用。

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樣品制備

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透射塊體樣品的制備要依據(jù)用戶的研究對(duì)象和內(nèi)容來調(diào)整，即使同種材料，粉碎之后用碳膜撈起觀察和花幾天減薄之后觀察其相應(yīng)結(jié)果可能是截然不同的。

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樣品測(cè)試

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透射電鏡的樣品分為可放在支撐環(huán)或薄墊圈上的樣品和自支撐樣品，由于電鏡桿的限制較多，透射樣品的制備和測(cè)試往往更為復(fù)雜。

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