總結(jié):影響無(wú)功補(bǔ)償電容器運(yùn)行溫度的因素有哪些?
無(wú)功補(bǔ)償電容器的運(yùn)行溫度必須保證在生產(chǎn)廠家規(guī)定的范圍內(nèi),否則將滋生運(yùn)行故障,影響系統(tǒng)無(wú)功補(bǔ)償?shù)恼_\(yùn)行。
在今天的文章中,小庫(kù)主要為大家總結(jié)影響無(wú)功補(bǔ)償電容器實(shí)際運(yùn)行溫度的相關(guān)因素,歡迎加入討論。
影響電容器運(yùn)行溫度的相關(guān)因素
1. 運(yùn)行電壓
根據(jù)公式可得出這樣一個(gè)結(jié)論,當(dāng)加載在補(bǔ)償電容器上的電壓升高,電容的實(shí)際容量和發(fā)熱量將會(huì)隨著電壓的2次方迅速增大,電容內(nèi)部介質(zhì)的最熱點(diǎn)溫度升高、實(shí)際運(yùn)行溫度升高,電容器的介質(zhì)熱老化也將加劇。
此外,當(dāng)無(wú)功補(bǔ)償電容器的實(shí)際運(yùn)行電壓超出電容起初的局部放電電壓,將可能引發(fā)一些列物理和化學(xué)反應(yīng)加速電介質(zhì)老化,而電介質(zhì)老化又會(huì)引發(fā)介質(zhì)耗損角增大, 繼而產(chǎn)生更多熱量,提高電容器的實(shí)際運(yùn)行溫度。
2. 介質(zhì)耗損
無(wú)功補(bǔ)償電容器的介質(zhì)損耗主要包含漏導(dǎo)耗損和極化損耗,且通常用tanδ來(lái)表達(dá)電容電介質(zhì)的絕緣水平與發(fā)熱情況。
而一般情況下,電容絕緣介質(zhì)的發(fā)熱與老化是互相影響的,老化會(huì)引發(fā)電容絕緣發(fā)熱,發(fā)熱也會(huì)反過(guò)來(lái)造成絕緣老化。當(dāng)補(bǔ)償電容的絕緣水平下降將可能導(dǎo)致熱擊穿,繼而破壞整個(gè)絕緣性能。
3. 環(huán)境溫度
在正常電壓以及頻率穩(wěn)定的條件下,無(wú)功補(bǔ)償電容器的內(nèi)部溫度應(yīng)該是趨于穩(wěn)定的,此時(shí)電容器的運(yùn)行溫度變化則主要受周邊環(huán)境溫度的影響。
夏季溫度普遍較高,電容器也常在較高的溫度下運(yùn)行,此時(shí)若沒(méi)有良好的散熱條件將很容易造成電容運(yùn)行溫度高出規(guī)定范圍f,繼而出現(xiàn)各種類型的問(wèn)題。
4. 電容器的幾何尺寸
無(wú)功補(bǔ)償電容的外殼除了起著密封作用外,還需要充當(dāng)電容運(yùn)行時(shí)將產(chǎn)出的熱量向散出的作用,且不同尺寸形狀電容器的有效散熱面積也是有區(qū)別的。
正常情況下,方箱型電容器的散熱效果要高于圓柱形電容器,因此不建議圓柱形電容的單臺(tái)容量做得太大,最好不要超過(guò)30kvar。