在科學(xué)原理上：X射線是由于原子中的電子在能量差異很大的兩個(gè)能級(jí)之間的跳躍而產(chǎn)生的粒子流，它是一種電磁輻射，波長(zhǎng)介于紫外線和γ射線之間。德國(guó)物理學(xué)家W.K.倫琴于1895年被發(fā)現(xiàn)，因此也被稱為倫琴射線。

倫琴射線X波長(zhǎng)很短，大約在0.01~100埃之間，具有很高的穿透能力，可以通過(guò)墨紙、木材等多種可見(jiàn)光不透明物質(zhì)。這種肉眼看不見(jiàn)的輻射可以使許多固體材料產(chǎn)生可見(jiàn)的熒光，使照片底片感光和空氣電離效應(yīng)。因此，工程師利用X射線的特性開(kāi)發(fā)了各種x射線檢測(cè)設(shè)備。

自20世紀(jì)中葉以來(lái)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，x射線計(jì)劃有了一個(gè)新的發(fā)展方向——工業(yè)CT計(jì)劃。所謂工業(yè)CT，就是三維x射線掃描，就是利用非破壞性x射線透視技術(shù)，將待測(cè)物體旋轉(zhuǎn)360度，通過(guò)單軸射線穿透被測(cè)物體。根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收和透射率，收集每個(gè)角度的穿透圖像，然后利用計(jì)算機(jī)操作重構(gòu)待測(cè)物體的實(shí)體圖像?？梢钥闯?，CT可以顯示物體的三維結(jié)構(gòu)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。與X射線的二維方案相比，有了質(zhì)的飛躍。從技術(shù)上講，CT斷層掃描技術(shù)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)價(jià)的最佳手段。工業(yè)CT采用斷層成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)品的無(wú)損可視化測(cè)量、裝配缺陷和材料分析。不受周圍細(xì)節(jié)特征的阻擋，可以直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀和尺寸信息。

x射線檢測(cè)方案可以直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀，易于判斷缺陷的性質(zhì)。輻射底片可以作為檢測(cè)的原始記錄，供多方研究和長(zhǎng)期保存，對(duì)薄壁工件無(wú)損檢測(cè)靈敏度高。對(duì)體積缺陷敏感，缺陷圖像平面分布真實(shí)，尺寸測(cè)量準(zhǔn)確。對(duì)工件表面光潔度沒(méi)有嚴(yán)格要求，材料晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大，可用于各種材料的內(nèi)部缺陷檢測(cè)，因此廣泛應(yīng)用于壓力容器的焊接質(zhì)量檢測(cè)。

工業(yè)CT方案具有明顯的優(yōu)勢(shì)
首先，工業(yè)CT技術(shù)獲得的被測(cè)物體斷層圖像分辨率高，更重要的工業(yè)CT檢測(cè)不受被測(cè)工件幾何結(jié)構(gòu)的限制。

其次，工業(yè)CT不僅可以用二維圖像展示被測(cè)樣品，還可以對(duì)工件的二維斷層圖像進(jìn)行三維立體重建，重建結(jié)果可以直觀地區(qū)分被測(cè)對(duì)象的內(nèi)部細(xì)節(jié)，包括工件被測(cè)對(duì)象的內(nèi)部構(gòu)成結(jié)構(gòu)、材質(zhì)、切面是否有缺陷，工件內(nèi)部缺陷的形狀、大小、位置等。

此外，工業(yè)CT技術(shù)具有較高的空間分辨率和密度分辨率，適應(yīng)性較強(qiáng)，可用于不同灰度等級(jí)的檢測(cè)；

此外，工業(yè)CT圖像易于識(shí)別和理解，檢測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確等。

工業(yè)電腦斷層掃描還有一個(gè)明顯的發(fā)展方向，即檢測(cè)和識(shí)別工業(yè)電腦斷層掃描切片圖像中的缺陷的主要方法是由專業(yè)人員人為判斷。這種識(shí)別方法主要依賴于測(cè)試人員的經(jīng)驗(yàn)，測(cè)試結(jié)果往往受到測(cè)試人員主觀判斷的干擾，結(jié)果不夠客觀。

隨著大數(shù)據(jù)、云計(jì)算，特別是量子時(shí)代的到來(lái)，許多公司已經(jīng)開(kāi)始研究缺陷智能檢測(cè)方法，消除人們主觀意識(shí)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的阻礙，依靠大量實(shí)際數(shù)據(jù)作為缺陷識(shí)別，提高效率，保證檢測(cè)質(zhì)量。人工智能智能識(shí)別和區(qū)分樣品信息將成為工業(yè)電腦斷層掃描檢測(cè)領(lǐng)域的發(fā)展方向，這也是未來(lái)缺陷檢測(cè)技術(shù)發(fā)展的必然趨勢(shì)。

日聯(lián)科技一直關(guān)注工業(yè)CT的最前沿領(lǐng)域，我們開(kāi)發(fā)的工業(yè)CT掃描設(shè)備，與國(guó)內(nèi)許多科研機(jī)構(gòu)和工廠合作，利用工業(yè)CT開(kāi)發(fā)專業(yè)智能識(shí)別分析軟件，目前我們的設(shè)備已經(jīng)幫助許多企業(yè)，通過(guò)靈活性的程序軟件，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品缺陷的自動(dòng)化識(shí)別，大大提高了工作效率。