微控制器（MCU）是將微型計(jì)算機(jī)的主要部分集成在一個(gè)芯片上的單芯片微型計(jì)算機(jī)。微控制器誕生于20世紀(jì)70年代中期，經(jīng)過(guò)20多年的發(fā)展，其成本越來(lái)越低，而性能越來(lái)越強(qiáng)大，這使其應(yīng)用已經(jīng)無(wú)處不在，遍及各個(gè)領(lǐng)域。

安車昇輝檢測(cè)第三方機(jī)構(gòu)性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室擁有CNAS和CMA資質(zhì)。測(cè)試項(xiàng)目包括：防水防塵測(cè)試、振動(dòng)、機(jī)械沖擊、高壓蒸煮、包裝跌落，恒溫恒濕，冷熱沖擊、氣體腐蝕、鹽霧、氙燈老化、抗拉強(qiáng)度、硬度、拉伸強(qiáng)度、高低溫測(cè)試等服務(wù)。如若您有關(guān)于檢測(cè)認(rèn)證的問(wèn)題可以咨詢我們，我們將為您解答，服務(wù)至您滿意為止!

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 21642.3-2012 ?基于IP網(wǎng)絡(luò)的視訊會(huì)議系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求 第3部分：多點(diǎn)控制單元（MCU）YD/T 2033.3-2009 ?基于IP網(wǎng)絡(luò)的視訊會(huì)議系統(tǒng)設(shè)備測(cè)試方法 第3部分：多點(diǎn)控制單元（MCU）

檢測(cè)項(xiàng)目：

1. 化學(xué)測(cè)試

2. 電磁兼容測(cè)試

3. 機(jī)械測(cè)試

4. 光學(xué)測(cè)試

5. 電學(xué)測(cè)試

6. 沖擊測(cè)試

7. 震動(dòng)測(cè)試

8. 溫濕度測(cè)試

9. 功能測(cè)試

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