《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》集成電路3D微型封裝技術(shù)
書籍:《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》
文章:集成電路3D微型封裝技術(shù)
編號(hào):JFKJ-21-056
作者:炬豐科技
抽象的:
? 微電子行業(yè)正在發(fā)生從 2D IC 到 3D IC 的重大范式變化。3D IC焦耳發(fā)熱嚴(yán)重,垂直互連是需要開發(fā)的關(guān)鍵要素。此外,可靠性問題也非常重要:電遷移和應(yīng)力遷移。本文介紹了 3D IC 封裝技術(shù)中的一些實(shí)際問題和可靠性挑戰(zhàn)。它展示了不同架構(gòu)如何演變以滿足不同市場(chǎng)的特定需求: 多芯片模塊 (MCP);多封裝模塊(MPM);嵌入式SIP模塊;SIP 層疊封裝 (PoP) 模塊;EMIB(嵌入式多芯片互連橋);硅基SIP-Module;3D-TSV堆疊模塊;具有寬帶和倒裝芯片互連組合的 SIP 變體。堵塞和故障機(jī)制的原因,以及預(yù)測(cè)可靠性問題,
關(guān)鍵詞: 原型美德,摩爾定律,分析妥協(xié),可靠性。
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介紹
? 3D MCM引入了IC芯片3D集成技術(shù)以及高密度芯片的多層互連技術(shù),具有更高的組裝密度和能力,更多的系統(tǒng)功能和I/O,更低的功耗和成本,以及更小的體積。大小 。封裝作為電子設(shè)備的重要組成部分,負(fù)責(zé)電路支撐、保護(hù)、I/O連接、散熱和屏蔽。電子器件的新發(fā)展對(duì)封裝和封裝材料的發(fā)展提出了更多的新要求。微電路封裝權(quán)衡分析與功能驗(yàn)證和架構(gòu)設(shè)計(jì)的集成為復(fù)雜電子系統(tǒng)的優(yōu)化提供了完整的虛擬原型解決方案 。
? 當(dāng)今商業(yè)電子市場(chǎng)的主要驅(qū)動(dòng)力是時(shí)間。筆記本電腦、手機(jī)和許多其他復(fù)雜的高密度系統(tǒng)的設(shè)計(jì)周期通常不到一年,甚至更短的市場(chǎng)窗口。這些產(chǎn)品的存在取決于尋找快速設(shè)計(jì)解決方案以滿足日益苛刻的性能和成本要求。
? 在不影響上市時(shí)間的情況下最大限度地降低系統(tǒng)成本的關(guān)鍵是在設(shè)計(jì)早期將制造信息與特定應(yīng)用的設(shè)計(jì)信息結(jié)合起來?????略

摩爾定律?????略
權(quán)衡分析在微電路封裝中的作用????略
微/納米封裝????略
微納系統(tǒng)的可靠性???略
微納系統(tǒng)的可靠性???略、
結(jié)論???略
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