開(kāi)源芯片系列講座第02期:EDA之測(cè)試綜合

01報(bào)告人
? ? 李華偉:中科院計(jì)算所研究員、計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室副主任、中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)集成電路設(shè)計(jì)專(zhuān)業(yè)委員會(huì)秘書(shū)長(zhǎng)、中科鑒芯公司創(chuàng)始人。

02講座形式
? ? B站直播?+ 微信視頻號(hào)直播
? ? 直播時(shí)間:2022年5月18日?20:00—21:00(本周三晚八點(diǎn))

03報(bào)告內(nèi)容簡(jiǎn)介
? ? 測(cè)試綜合處于電路設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)工具鏈的中間環(huán)節(jié),一般在前端設(shè)計(jì)初步完成之后介入,確定可測(cè)試性設(shè)計(jì)方案,在驗(yàn)證通過(guò)的網(wǎng)表上進(jìn)行測(cè)試綜合,并評(píng)估測(cè)試覆蓋率;完成測(cè)試綜合之后進(jìn)行后端的物理設(shè)計(jì),物理設(shè)計(jì)在布局布線(xiàn)過(guò)程中會(huì)對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行調(diào)整,需要返回網(wǎng)表進(jìn)行進(jìn)一步的測(cè)試電路的驗(yàn)證,生成最終用于芯片測(cè)試、確保故障覆蓋率目標(biāo)的測(cè)試向量集。
? ? 本報(bào)告主要介紹測(cè)試綜合EDA的基礎(chǔ)知識(shí)和關(guān)鍵技術(shù)。

04報(bào)告人簡(jiǎn)介
? ? 李華偉:
中科院計(jì)算所研究員,博士生導(dǎo)師,計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室副主任,中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)(CCF)會(huì)士。擔(dān)任CCF集成電路設(shè)計(jì)專(zhuān)委會(huì)秘書(shū)長(zhǎng),中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)集成電路測(cè)試專(zhuān)委副主任兼秘書(shū)長(zhǎng);《IEEE Design & TEST》、《IEEE Transaction on VLSI Systems》等期刊Associate Editor。主要從事數(shù)字電路測(cè)試、可靠設(shè)計(jì)、電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)、近似計(jì)算與智能計(jì)算體系結(jié)構(gòu)研究,發(fā)表學(xué)術(shù)論文300余篇,授權(quán)發(fā)明專(zhuān)利30余項(xiàng)。研究成果榮獲國(guó)家技術(shù)發(fā)明二等獎(jiǎng)、北京市科技一等獎(jiǎng)、CCF技術(shù)發(fā)明一等獎(jiǎng)、中國(guó)質(zhì)量技術(shù)一等獎(jiǎng)等。2021年創(chuàng)辦中科鑒芯公司,致力于發(fā)展國(guó)產(chǎn)集成電路全生命周期可靠設(shè)計(jì)EDA工具鏈。
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