無損檢測發(fā)展趨勢與蔡司工業(yè)CT成像原理-馬路科技
無損檢測的發(fā)展趨勢
無損檢測就是Non Destructive Testing,縮寫是NDT,也叫非破壞性檢測、無損探傷。
無損檢測是指在不破壞或不影響被檢測對(duì)象使用功能的前提下,采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測的技術(shù)。

相對(duì)比其他檢測,無損檢測有如下特性:
非破壞性
無損檢測可以在獲得檢測結(jié)果的同時(shí)不損壞樣品本身。無損檢測既可普遍檢查,也可以進(jìn)行抽樣檢驗(yàn),檢測規(guī)模具有靈活性。
互容性
即指檢驗(yàn)方法的互容性,即同一零件可以先用無損檢測,再進(jìn)行其他檢測,互不影響。
全面性
由于檢測是非破壞性,因此必要時(shí)可對(duì)被檢測對(duì)象進(jìn)行100%的全面檢測,這是破壞性檢測辦不到的。
ZEISS蔡司工業(yè)CT已經(jīng)被廣泛用于無損檢測,工業(yè)傳統(tǒng)掃描是一種專業(yè)的射線成像技術(shù),它能以二維或三維圖像的形式直觀、清晰、準(zhǔn)確地顯示樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、成分、材料和缺陷,并且無損于被測物體。
蔡司工業(yè)CT成像原理
蔡司工業(yè)CT成像過程:
射線源產(chǎn)生X射線穿透被檢樣品,樣品對(duì)射線吸收或散射而發(fā)生衰減,其衰減量由透照樣品厚度及組分決定;
射線衰減后入射到探測器形成二維灰度 投影圖像;
探測器采集到不同角度的二維投影圖像;
對(duì)投影圖像重建后獲得樣品,工業(yè)CT斷層圖像多幅連續(xù)斷層圖像三維重構(gòu)后獲得樣品三維體素模型;
三維體數(shù)據(jù)經(jīng)過閾值分割、邊緣檢測完成后續(xù)工業(yè)CT數(shù)據(jù)的分析與可視化過程。
綜上所述,一個(gè)完整的蔡司工業(yè)CT掃描及數(shù)據(jù)處理過程包括:投影采集-數(shù)據(jù)重建-邊緣檢測-數(shù)據(jù)分析。

蔡司工業(yè)CT技術(shù)優(yōu)勢
相比普通射線成像,蔡司工業(yè)CT獨(dú)特的優(yōu)勢表現(xiàn)為:
蔡司工業(yè)CT技術(shù)密度分辨率高、精度高、成本低、耗時(shí)少、無污染、無破壞,直觀性好,可以檢測任意形狀的封閉內(nèi)腔;
CT技術(shù)測量信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍較高:基本上沒有圖像重疊、模糊等問題出現(xiàn),同時(shí)基本不受周圍細(xì)節(jié)的影響,密度、空間分辨率都有了相應(yīng)的提高;
由于工業(yè)CT技術(shù)是數(shù)字化的檢測,利用數(shù)學(xué)模型及圖像重建分析,可直接從斷層圖像中獲取目標(biāo)的物理信息,同時(shí)數(shù)字化的測量結(jié)果更有利于信息的傳輸、處理等。


第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描儀 (CT)蔡司工業(yè)CT 1500
第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描儀 (CT) 蔡司?METROTOM 1500?證明了 X 射線技術(shù)在今天經(jīng)得起考驗(yàn)。
掃描速度更快:通過檢測器的不同操作模式,掃描時(shí)間最多可減少 75%,同時(shí)可獲得與 2k 檢測器相當(dāng)?shù)捏w素大小。
獲得可靠的結(jié)果:由于蔡司在計(jì)量學(xué)方面的高能力轉(zhuǎn)化為 CT 技術(shù),您可以信賴高計(jì)量性能。參考 VDI/VDE 表 1.3 的 4.5 + L/50 μm MPESD 在整個(gè)視野中得到保證——測量結(jié)果值得信賴。
智慧設(shè)計(jì):僅 6.7 m2 的占地面積減少,服務(wù)門的巧妙結(jié)構(gòu)允許在測量實(shí)驗(yàn)室的狹小空間內(nèi)靈活安裝。為了方便和安全地裝載大型和重型零件,操作員可以從前面進(jìn)入系統(tǒng)。
看見更多微小缺陷:在第三代中,新的 3k 檢測器生成具有更高分辨率的 3D 體積數(shù)據(jù)集,即更多的體素允許檢測更小的缺陷。
掃描更大的部分:為了充分利用測量實(shí)驗(yàn)室的空間,在減少占地面積的同時(shí)擴(kuò)大了測量體積。在 6.7 平方米的空間內(nèi)測量和檢查高度達(dá) 870 毫米的零件——市場上最佳的系統(tǒng)/零件體積比。

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