EBSD測試常見的問題及解答(三)
在做EBSD測試時,科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對此項目不太了解,針對此,科學(xué)指南針檢測平臺組織相關(guān)同事對EBSD測試進(jìn)行問題收集并整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
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1.CI值低的點(diǎn),物相類型是否準(zhǔn)確?
答:一般來說CI值大于0.1即可,但是也要分情況看造成CI值低原因是什么,比如是材料本身應(yīng)力太大造成的,還是選擇多種結(jié)構(gòu)相同,晶格常數(shù)相近的五項所造成的,如果是我說的這兩種情況,就要慎重考慮了。
2.大變形樣品怎么提高標(biāo)定率?
答:選用好的硬件設(shè)備利用更好的算法進(jìn)行標(biāo)定,在制樣上多下功夫,采用TKD進(jìn)行測試都可以在一定程度提升效果。
3.摩擦表面可以用EBSD觀察晶粒尺寸,應(yīng)變么?
答:可以,只要能制備出合適的EBSD樣品,獲得可信的數(shù)據(jù)即可實現(xiàn)。
4.GND怎么通過EBSD計算?
答:EBSD廠家的新款分析軟件都內(nèi)置有GND功能,可以直接導(dǎo)出數(shù)據(jù)。
5.為什么看著IQ圖總感覺有點(diǎn)虛呢?還是做得不夠好是嗎?
答:IQ圖虛的話,先排除有沒有在數(shù)據(jù)采集過程中漂移,另外一個就是樣品本身應(yīng)力較大。
6.對于塊狀磁性材料,不是磁粉,EBSD制樣用什么方式比較好?
答:如果是單相材料導(dǎo)電性良好可以使用電解拋光,如果是多相,可以考慮使用機(jī)械拋光加震動拋光,或者離子束拋光。
7.去噪點(diǎn)怎么處理才平衡效果和不失真?
答:根據(jù)樣品采集出來的效果,看噪點(diǎn)在什么位置,是由什么原因造成的,再選擇對應(yīng)的降噪方法,一般降噪點(diǎn)不能造成晶粒變大,數(shù)據(jù)改變量不應(yīng)超過10%的總點(diǎn)數(shù)。
8.奧氏體不銹鋼EBSD制樣什么方式比較好?
答:電解拋光就能獲得很好的效果。
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