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地質(zhì)薄片樣品制備目的及制樣過(guò)程

2022-05-11 15:48 作者:沈陽(yáng)科晶 0人讀過(guò) | 我要投稿

? ? ? 地質(zhì)勘查包含的范圍很廣，進(jìn)行地質(zhì)勘查的主要目的是進(jìn)行區(qū)域礦產(chǎn)基地及礦產(chǎn)遠(yuǎn)景區(qū)預(yù)測(cè)與評(píng)價(jià)，礦區(qū)與礦床的勘探、開(kāi)發(fā)與評(píng)價(jià)，地質(zhì)工程領(lǐng)域建設(shè)、勘查并評(píng)價(jià)項(xiàng)目可行性研究與決策等，在此過(guò)程中需要對(duì)所勘查的區(qū)域進(jìn)行樣品采集，通過(guò)對(duì)樣品的分析來(lái)確定所勘查區(qū)域礦物成分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其組成等。在采集樣品后進(jìn)行分析的過(guò)程中就涉及到樣品的制備，通常樣品分析過(guò)程和采集過(guò)程需要的時(shí)間都很短，而由于地質(zhì)樣品質(zhì)地和構(gòu)造的不均勻性，在制樣過(guò)程中就需要耗費(fèi)大量的時(shí)間，因此如何縮短樣品的制備時(shí)間，爭(zhēng)取在短時(shí)間內(nèi)制備出高質(zhì)量的樣品是一個(gè)急需解決的問(wèn)題。因此，應(yīng)通過(guò)大量的實(shí)驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)來(lái)選取最短時(shí)最優(yōu)質(zhì)的制樣過(guò)程。本文通過(guò)對(duì)不同設(shè)備的使用，總結(jié)出了一套快捷的制樣方案,使沒(méi)有制樣經(jīng)驗(yàn)的研究人員也能自行獲得優(yōu)質(zhì)的地質(zhì)薄片樣品。地質(zhì)樣品的種類繁多，如巖石樣品、礦物樣品、土壤樣品等。本文以巖石樣品為例介紹一下地質(zhì)薄片類樣品的基本制備過(guò)程。

1、巖石樣品采樣

1.1 薄片制樣目的

⑴ 測(cè)定造巖礦物的種類及含量，對(duì)巖石進(jìn)行定名、分類；

⑵ 測(cè)定透明礦物的晶形、粒度、構(gòu)造、光性等特征，研究礦物的形成環(huán)境，并為巖石對(duì)比提供信息；

⑶ 鑒定巖石的結(jié)構(gòu)（包括粒度）、構(gòu)造特點(diǎn)，研究巖石的成因及形成史；

⑷ 鑒定礦物包裹體，了解巖石的形成條件；

⑸ 鑒定巖石的后期蝕變、交代及礦化，為找礦提供資料；

⑹?鑒定化石的種屬、特征，研究地層的時(shí)代及古生態(tài)環(huán)境；

⑺ 進(jìn)行巖石組分分析，研究巖體、巖層的構(gòu)造；

⑻ 鑒定巖石的微裂縫及孔隙度，為找油找氣提供資料。

1.2 采樣原則和要求

⑴ 所采集的樣品應(yīng)有充分的代表性。采集標(biāo)本時(shí)要盡量采集新鮮的巖石，并做好野外地質(zhì)觀察描述工作；以下面4種典型的地質(zhì)樣品為例

沉積巖：對(duì)工作區(qū)內(nèi)各時(shí)代地層的每一種代表性巖石均應(yīng)按地層層序系統(tǒng)采樣，同時(shí)也要適當(dāng)采集能反映巖走向變化情況的樣品；有沉積礦產(chǎn)的地段和沉積韻律發(fā)育地段，應(yīng)視研究的需要而加密采樣點(diǎn)

巖漿巖：在每個(gè)巖體中按相帶系統(tǒng)采集各種代表性巖石樣品，在各相帶間的過(guò)度地段應(yīng)加密采樣點(diǎn)；對(duì)巖體的下列地段及地質(zhì)體均應(yīng)采集樣品：析離體、捕擄體、同化混染帶、脈巖、巖體各類圍巖、接觸變質(zhì)帶、巖體冷凝邊等；對(duì)各種類型的火山巖，按其層序及巖性，沿走向和傾向系統(tǒng)采樣。

變質(zhì)巖：根據(jù)巖石變質(zhì)程度按剖面系統(tǒng)采樣，并注意樣品中應(yīng)含有劃分變質(zhì)帶的標(biāo)志礦物；對(duì)不同夾層、殘留體（由邊緣至中心）、各種混合巖應(yīng)系統(tǒng)地分別采樣。

?礦石：應(yīng)按不同自然類型、工業(yè)類型、礦化期次、礦物共生組合、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、圍巖蝕變的礦石，以及根據(jù)礦石中各有用礦物的相互關(guān)系，有用礦物與脈石礦物的相互關(guān)系等特征分別采集礦石樣品。對(duì)于礦石類型復(fù)雜，礦物組合變化大的礦體，還應(yīng)選擇有代表性的剖面系統(tǒng)采樣，以便研究礦石的變化規(guī)律。

⑵ 以能反映實(shí)際情況和滿足切制薄片及手標(biāo)本觀察的需要為原則；

1.3取樣、制樣要求

⑴ 樣品大小一般 5×5×5cm，粗粒巖石含量測(cè)量樣品要加大至 10×10×5cm；

⑵ 作巖組分析及區(qū)域構(gòu)造研究的樣品要定向，在樣品的層理、片理、線理及節(jié)理面上標(biāo)注產(chǎn)狀；

⑶ 松散樣品應(yīng)用棉花及小硬盒包裝保護(hù)，磨片前用稀釋的環(huán)氧樹(shù)脂浸泡固結(jié)。

⑷ 化石薄片樣應(yīng)在標(biāo)本上圈出化石的位置及切片的位置；

⑸ 所采樣品一般要用白漆在薄片標(biāo)本的左上角涂一小長(zhǎng)方形，待干后寫(xiě)上編號(hào)，與此同時(shí)要填寫(xiě)標(biāo)簽，然后用麻紙包好，并進(jìn)行登記。（以下樣品同）

⑹ 必要時(shí)送樣要附采樣地質(zhì)圖或剖面圖，寫(xiě)明采樣位置；

⑺ 一般薄片大小為 2.4×2.4 cm，粗粒巖石含量測(cè)量要磨大薄片（5×5cm）；巖組分析薄片要注明切面方向；

⑻ 一般薄片厚度 0.03mm、化石鑒定薄片厚度0.04mm 左右、包體測(cè)溫薄片厚 0.1—0.7mm。

2試樣制備的具體過(guò)程

? ? ? 從野外取回的樣品進(jìn)入實(shí)驗(yàn)室后第一步就是在大塊樣品上切取合適大小的小塊試樣，再在試樣塊上切取所要的尺寸的試樣片。本實(shí)驗(yàn)室一般先將樣品切割成25mm×25mm×5mm的長(zhǎng)方體試樣塊，再根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求從試樣塊上切取適合厚度的薄片。沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司用來(lái)切割地質(zhì)類樣品的有兩種類型的機(jī)器，一種是外圓切割機(jī)，一種是金剛石線切割機(jī)。

? ? ? 外圓切割機(jī)采用無(wú)級(jí)調(diào)速，扭矩大，運(yùn)行平穩(wěn)，剛性好、耐用、切削力強(qiáng)、切割面平整、光潔。不同型號(hào)的外圓切割機(jī)各具其自身的特點(diǎn)可根據(jù)不同需求選擇不同的外圓切割機(jī)。沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司制造的外圓切割機(jī)適合切割地質(zhì)樣品的有SYJ-200自動(dòng)精密切割機(jī)、SYJ-200H手動(dòng)快速切割機(jī)。圖1所示為用SYJ-200H手動(dòng)快速切割機(jī)將大塊巖石切割成小塊的巖石樣品。

? ? ? 金剛石線切割機(jī)的切割方式屬于柔性切割，依靠金剛石線與材料之間的摩擦使材料切割開(kāi)，對(duì)材料的損傷程度小，切割后的材料表面粗糙度低，平行度好，邊緣無(wú)破邊或破邊極小，特適用于各種材料的精密切割。該種切割機(jī)主要用于脆性材料、難導(dǎo)電材料及各類金屬材料的精密切割，尤其適用于材料的薄片切割。例如晶體、各種陶瓷（汽車尾氣處理載體、結(jié)構(gòu)陶瓷、工具陶瓷、功能陶瓷等）、玻璃、塑料、橡膠、PCB板、巖樣、礦樣、耐火材料、建筑材料、牙科材料、鎢合金、紫銅、生物及仿生復(fù)合材料等。用金剛石線切割機(jī)進(jìn)行超薄精密切割時(shí)，切得的薄片厚度最薄可達(dá)0.08mm。

? ? ? 制作地質(zhì)薄片時(shí)首先需要對(duì)樣品切割薄片，切割薄片前首先要考慮樣品的類型，若樣品材質(zhì)緊密，切割后不會(huì)碎裂則可直接切割成薄片進(jìn)行研磨拋光。若樣品質(zhì)地疏松，切割后易碎裂，則需要先在樣品上切割出一個(gè)平面，對(duì)該平面進(jìn)行研磨拋光，研磨拋光后將磨拋面用光敏膠或樹(shù)脂膠粘貼在載玻片上，然后以載玻片為基準(zhǔn)面再切割出厚度為0.5㎜的薄片，再對(duì)切割后的薄片進(jìn)行研磨拋光。

2.1 質(zhì)地緊密可直接切割成薄片進(jìn)行研磨拋光的樣品的切割及研磨拋光過(guò)程

? ? ? 這里主要指普通薄片樣品的制備過(guò)程而不包括粗粒巖石薄片樣品的制備過(guò)程。

2.1.1本實(shí)驗(yàn)所用切割設(shè)備

? ? ? 本實(shí)驗(yàn)可用到的切割設(shè)備是由沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司制造的SYJ-200H手動(dòng)快速切割機(jī)、SYJ-200自動(dòng)精密切割機(jī)、STX-202A小型金剛石線切割機(jī)，設(shè)備形貌如圖2所示：?

2.1.2本實(shí)驗(yàn)所用研磨拋光設(shè)備

? ? ? 本實(shí)驗(yàn)所用到的研磨拋光設(shè)備是由沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司制造的UNIPOL-1202自動(dòng)精密研磨拋光機(jī)、GPC-80A精確磨拋控制儀，設(shè)備形貌如圖3所示：

2.1.3本實(shí)驗(yàn)所用切割及研磨的輔助設(shè)備

? ? ? 本實(shí)驗(yàn)所用到的切割研磨輔助設(shè)備是由沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司制造的MTI-3040加熱平臺(tái)、多工位薄片粘合臺(tái)、DZF-6020真空干燥箱、VGT-1620QTD超聲波清洗機(jī)，設(shè)備形貌如圖4所示：

2.1.4本實(shí)驗(yàn)所用耗材

? ? ? 本實(shí)驗(yàn)所用耗材是由沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司銷售的邊緣燒結(jié)金剛石鋸片、金剛石線、石蠟、載玻片、樹(shù)脂陶瓷墊塊、研磨粉、帶背膠水磨砂紙、白色合成革拋光墊、金剛石懸浮拋光液及UV膠，其中載玻片的規(guī)格有兩種，分別是25×75×1㎜和26×50×1㎜的載玻片，可根據(jù)個(gè)人需要進(jìn)行選擇，所有耗材如圖5所示；

2.1.5薄片樣品的切割

? ? ? 經(jīng)初加工成的25×25×一定長(zhǎng)度（㎜）的試樣塊再經(jīng)由STX-202A將試樣塊切割成25×25×5㎜的試樣片。切割前首先要對(duì)試樣進(jìn)行粘結(jié)，粘結(jié)的過(guò)程依靠石蠟將樣品粘附在樹(shù)脂陶瓷墊塊上。首先將初加工的試樣塊、STX-202A專用載樣塊、樹(shù)脂陶瓷墊塊一同放到MTI-3040加熱平臺(tái)上進(jìn)行預(yù)熱，石蠟的融化溫度大約在80℃左右，當(dāng)加熱平臺(tái)使試樣塊、樹(shù)脂陶瓷墊塊及STX-202A專用載樣塊三者表面的溫度達(dá)到80℃后將石蠟涂在三者表面將要進(jìn)行連接的位置，然后按載樣塊、樹(shù)脂陶瓷墊塊、試樣塊的順序依次將三者疊放到一起，三者疊放的順序如圖6所示，然后將疊放到一起的試樣移到加熱平臺(tái)下進(jìn)行冷卻，當(dāng)三者的溫度冷卻到室溫后便可以對(duì)樣品進(jìn)行切割。樣品的初始切割位置如圖6所示若無(wú)特殊要求STX-202A金剛石線切割機(jī)標(biāo)配的金剛石線為φ0.35㎜的金剛石線，切割速度根據(jù)被切樣品的具體情況而定，樣品過(guò)硬或切割困難則使用慢一點(diǎn)的切割速度，若樣品易于切割則可適當(dāng)提升切割速度。由于樣品的切割主要依靠金剛石線與試樣間的摩擦，因而會(huì)產(chǎn)生一定的熱量，切割過(guò)程中需要用冷卻液對(duì)樣品和切割線進(jìn)行冷卻，實(shí)驗(yàn)室一般用切割專用油對(duì)樣品進(jìn)行冷卻。若有特殊要求也可用水或其它冷卻液對(duì)樣品進(jìn)行冷卻，視具體情況而定。切薄片過(guò)程中所需要的薄片數(shù)量等于切割次數(shù)減一，切割厚度設(shè)置時(shí)應(yīng)將金剛石線徑的長(zhǎng)度加在其中。2.1.6樣品的研磨

? ? ? 切割后的25×25×5㎜的薄片樣品需要進(jìn)行雙面研磨拋光。研磨過(guò)程一般使用水磨砂紙從150目砂紙一直研磨到2000目砂紙。研磨過(guò)程可以使用沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司制造的UNIPOL-1202精密研磨拋光機(jī)搭配GPC-80A機(jī)械研磨手臂，UNIPOL-1202精密研磨拋光機(jī)是實(shí)驗(yàn)室用來(lái)研磨拋光地質(zhì)薄片樣品最適合的研磨拋光機(jī)，該機(jī)配備兩個(gè)加工工位，可同時(shí)使用兩臺(tái)GPC-80A機(jī)械研磨手臂，因此可同時(shí)進(jìn)行多個(gè)樣品的磨拋。GPC-80A機(jī)械研磨手臂是用來(lái)研磨地質(zhì)薄片樣品不可或缺的設(shè)備，該設(shè)備使樣品在研磨過(guò)程中保持相同的厚度和精確的平行度。

? ? ? 樣品的研磨過(guò)程可分為粗磨和細(xì)磨兩部分，粗磨過(guò)程是使用一定粒度的砂紙盡量減小樣品切割過(guò)程中的機(jī)械損傷層，使樣品表面變得平整。細(xì)磨過(guò)程中用粒度更細(xì)的砂紙使粗磨過(guò)程中在檢驗(yàn)面上產(chǎn)生的較粗較深的磨痕淡化甚至消除，為樣品表面的拋光做準(zhǔn)備。無(wú)論粗磨還是細(xì)磨，所使用的砂紙應(yīng)遵循從粗顆粒到細(xì)顆粒循序漸進(jìn)的順序進(jìn)行，不能粗細(xì)砂紙交叉使用，也盡量不要跳過(guò)哪一號(hào)砂紙進(jìn)行研磨，否則會(huì)得不到所需的研磨拋光面。?

? ? ? 研磨前首先要對(duì)樣品進(jìn)行固定，由于樣品需要進(jìn)行雙面研磨，因此，首次研磨可不使用光敏膠對(duì)樣品進(jìn)行粘結(jié)。實(shí)驗(yàn)室通常用石蠟對(duì)樣品進(jìn)行粘結(jié)固定，沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司自行研制的石蠟的融化溫度在80℃左右。樣品在進(jìn)行固定前要進(jìn)行預(yù)熱，本實(shí)驗(yàn)室使用沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司制造的MTI-3040加熱平臺(tái)對(duì)樣品和GPC-80A專用載樣塊進(jìn)行加熱，當(dāng)樣品和載樣塊表面溫度達(dá)到80℃后便可以將石蠟涂在兩者之間將要進(jìn)行連接的位置，然后將樣品在載樣塊上對(duì)稱放置好移到加熱平臺(tái)下進(jìn)行冷卻，當(dāng)樣品和載樣塊冷卻到室溫后便可以將載樣塊裝載回GPC-80A機(jī)械研磨手臂上對(duì)樣品進(jìn)行研磨了。

? ? ? ?研磨是依靠樣品與砂紙之間的摩擦而進(jìn)行的，摩擦就會(huì)生熱，因此樣品研磨過(guò)程中應(yīng)用水對(duì)樣品進(jìn)行冷卻。粗磨過(guò)程首先使用150目砂紙對(duì)樣品進(jìn)行磨平，研磨后的樣品平整度已經(jīng)很高，再進(jìn)行小粒度砂紙的研磨是為了使樣品表面的機(jī)械損傷層更小，使樣品表面更光滑。當(dāng)用150目砂紙將樣品整個(gè)表面研磨一遍后再依次換用240目、320目、400目、600目砂紙對(duì)樣品進(jìn)行研磨，每一個(gè)型號(hào)的砂紙研磨完后，樣品表面的劃痕和凹坑都會(huì)減輕很多。當(dāng)完全經(jīng)過(guò)這些型號(hào)的砂紙的研磨后樣品表面已經(jīng)很光滑，劃痕和凹坑已經(jīng)沒(méi)有明顯的存在了。到此，粗磨過(guò)程基本完成，粗磨后就要用細(xì)砂紙對(duì)樣品進(jìn)行細(xì)磨了。

? ? ? 細(xì)磨過(guò)程中通常將樣品經(jīng)800目、1000目、1200目、1500目、1800目、2000目砂紙各研磨一遍，保證樣品表面的劃痕緩慢均勻的消除。當(dāng)最后兩種型號(hào)的砂紙研磨完后樣品表面已經(jīng)可以見(jiàn)到微弱的亮光了。值得注意的是，在整個(gè)研磨過(guò)程中，每換一次砂紙時(shí)都應(yīng)將上一道工序用過(guò)的研磨盤(pán)、樣品、載樣塊、修盤(pán)環(huán)等用水認(rèn)真清理干凈，以免上一道砂紙研磨后的顆粒帶入到下一道研磨工序中去，影響了樣品表面的研磨質(zhì)量，給樣品表面帶來(lái)不易去除的劃痕，從而需要對(duì)樣品進(jìn)行返工，不僅影響樣品的表面質(zhì)量也耗費(fèi)的大量的時(shí)間。因此，保證每次研磨沒(méi)有新雜質(zhì)的進(jìn)入是研磨成敗的關(guān)鍵所在。

? ? ? 研磨后將要對(duì)試樣進(jìn)行拋光，本實(shí)驗(yàn)室對(duì)大多數(shù)地質(zhì)薄片樣品的拋光通常使用合成革拋光布，拋光時(shí)拋光液通常使用W5以下的金剛石懸浮拋光液，樣品拋光后便可從載樣塊上取下。此時(shí)地質(zhì)薄片樣品已經(jīng)研磨完成一面。接下來(lái)應(yīng)對(duì)另一面進(jìn)行研磨。

? ? ? 為保證樣品在顯微鏡下透光性好，成像清晰，取下的樣品應(yīng)進(jìn)行認(rèn)真清洗，本實(shí)驗(yàn)室用來(lái)清洗樣品的設(shè)備是沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公式制造的VGT-1620QTD超聲波清洗機(jī)，清洗后的樣品用電吹風(fēng)吹干，然后在樣品表面涂上透光性良好的光敏膠，將樣品固定于載玻片上，固定樣品的基本過(guò)程如圖7所示；

? ? ? 為保證樣品與載玻片之間完全貼合，沒(méi)有氣泡殘留且黏膠層盡可能的薄，本實(shí)驗(yàn)室用沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公制造的多工位樣品粘合臺(tái)將試樣與載玻片壓實(shí)，多工位樣品粘合臺(tái)壓實(shí)樣品的過(guò)程如圖8所示，該設(shè)備主要運(yùn)用彈簧張力對(duì)所固定的樣品進(jìn)行中心加壓，使樣品整個(gè)面均勻受力，還可根據(jù)被固定樣片的特性及檢測(cè)需要來(lái)調(diào)整彈簧張力大小和樣片數(shù)量。粘合過(guò)程中當(dāng)樣品與載玻片間沒(méi)有氣泡殘留且樣品與載玻片間完全貼合就可以了。

? ? ? 此時(shí)取出樣品放到紫外光燈下或真空干燥箱中使UV膠完全凝固。本實(shí)驗(yàn)室使用沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公制造的真空干燥箱使樣品與載玻片間的膠凝固。取出樣品然后就可以對(duì)樣品的另一面進(jìn)行研磨了，另一面的研磨與第一面的研磨過(guò)程相同，即重復(fù)第一面的研磨過(guò)程即可，研磨后的樣品的厚度不能超過(guò)30μm，這樣能保證樣品在透光偏光顯微鏡下有良好的透光性，才會(huì)觀察到清晰的巖石組織形貌，為下一步的分析及觀察做好準(zhǔn)備。研磨過(guò)程中加載玻片的樣品在GPC-80A上的固定位置如圖9所示。研磨過(guò)程中用SKCH-1（A）精密測(cè)厚儀對(duì)樣品的剩余厚度進(jìn)行測(cè)量，直到觀察到樣品厚度在合格范圍內(nèi)為止，測(cè)量剩余樣品厚度的設(shè)備和過(guò)程如圖10所示。完全研磨后樣品應(yīng)將表面清洗干凈。

? ? ? 以上便是可直接切成25×25×5㎜薄片進(jìn)行研磨的樣品的切割和研磨的基本過(guò)程，實(shí)驗(yàn)者應(yīng)認(rèn)真遵循實(shí)驗(yàn)過(guò)程的基本步驟。

2.2質(zhì)地疏松應(yīng)先切割出基面的樣品的切割與研磨過(guò)程??

? ? ? 對(duì)于質(zhì)地疏松的樣品切割完25×25×一定長(zhǎng)度的條形塊后，應(yīng)對(duì)切割出的25×25㎜的面進(jìn)行研磨，研磨時(shí)用手持試樣或用專用工裝夾具夾持樣品按第一種樣品的研磨步驟將25×25㎜的面研磨拋光，然后將研磨拋光后的樣品面上涂上光敏膠蓋上載玻片壓實(shí)，將載玻片與樣品間的氣泡全部擠壓出去，然后放到真空干燥箱中進(jìn)行干燥，使膠凝固，使載玻片完全固定在樣品上。接下來(lái)要對(duì)樣品進(jìn)行切片操作，由于固定載玻片時(shí)膠黏劑會(huì)有一定量滲透到樣品中去，因此樣品切割成薄片時(shí)不會(huì)碎裂。薄片的切割要用到地址薄片切割專用夾具，夾具示意圖如圖11所示。

? ? ? 將真空吸盤(pán)裝載于STX-202A金剛石線切割機(jī)樣品臺(tái)上，然后將載玻片吸附于真空吸盤(pán)上，設(shè)置切割參數(shù)將樣品切割成近似50μm的薄片，此薄片應(yīng)是留在載玻片上的樣品的厚度，樣品的切割位置如圖12所示。切割后用手扶住載玻片，關(guān)閉真空泵，然后取下載玻片，取下載玻片后將載玻片粘貼于GPC-80A機(jī)械手臂上進(jìn)行研磨拋光，研磨拋光的基本過(guò)程同第一種樣品的研磨拋光過(guò)程相同，研磨過(guò)程中應(yīng)使用精密測(cè)厚儀對(duì)剩余樣品厚度進(jìn)行測(cè)量，研磨后的樣品厚度應(yīng)在30μm左右。

? ? ? 研磨拋光后將試樣清洗干凈，清洗干凈后便可以對(duì)樣品進(jìn)行觀察了。需要注意的是樣品研磨過(guò)程中首號(hào)砂紙的使用，當(dāng)樣品易磨削時(shí)首號(hào)砂紙可以使用顆粒度相對(duì)較小的砂紙進(jìn)行研磨，以免砂紙顆粒度過(guò)大樣品表面去除量過(guò)多，樣品表面劃痕過(guò)深，后期研磨不易去除，具體使用哪一號(hào)砂紙可視樣品的材質(zhì)而定。圖13是本實(shí)驗(yàn)室根據(jù)自己的研磨拋光經(jīng)驗(yàn)制作的幾種地質(zhì)薄片樣品，地質(zhì)薄片樣品的大小也可視情況而定，只要大小不超出載玻片的大小就可以。