在做AFM測試時，科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對此項(xiàng)目不太了解，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對AFM測試進(jìn)行問題收集并整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

1.樣品導(dǎo)電性不好，需要噴金嗎？
答：AFM對樣品表面的導(dǎo)電性沒有要求，可以測導(dǎo)電的和不導(dǎo)電的。

2. AFM可以分析材料的親疏水性嗎？如何判斷？
答：可以分析，需要用液下模式。

3.AFM和MFM都可以出形貌圖，這兩種有什么區(qū)別？以哪個為準(zhǔn)？
答：AFM出的圖是形貌圖，MFM出的圖是抬起模式相圖也就是磁疇分布圖，在分析相圖時需要對比形貌圖，分析兩者之間的差異從而得到磁分布的信息。

4.測量樣品起伏度有極限值嗎？
答：有極限值，最好1微米之內(nèi)，5微米以內(nèi)根據(jù)樣品性質(zhì)用輕敲模式掃描時降低掃描1速度可以實(shí)現(xiàn)，大于5微米的樣品不建議使用AFM進(jìn)行測試。

5. 樣品尺寸較大，微米級的可以測嗎？檢測有必要嗎？
答：樣品尺寸橫向大小微米級的可以使用AFM測試，根據(jù)你想得到的材料信息來判斷有沒有檢測的必要，如果微米級起伏根據(jù)第4條回答來判斷。

6.AFM力曲線中位移-力曲線和距離-力曲線如何轉(zhuǎn)化？轉(zhuǎn)化過程中需要注意哪些細(xì)節(jié)？
答：F-Z轉(zhuǎn)換成F-D曲線可以在分析軟件中修改，將display mode改為Force vs sep就可以直接轉(zhuǎn)換。

7.樣品是粉末，疏松度十分疏松，測量時，會不會因?yàn)榉勰┦杷?，測不了??？
答：一般粉末樣品需要分散到硅片或云母表面測試。

8.測量時，探針會不會將表面形貌破壞??？
答：樣品較軟時采用峰值力輕敲模式掃描，將力設(shè)置小一些就不會對表面形貌造成破壞。

9.磁學(xué)MFM測量探針的鍍層是Co的話，Co易氧化，如何保存？
答：一般是Co-Cr的鍍層，不會被氧化，沒有特殊保存要求。

10.AFM掃描過程中，力曲線反應(yīng)的是什么物理圖像？
答：力曲線反應(yīng)的是樣品與探針之間的作用力。

11.MESP針最大磁場可以加到多大？
答：MESP的探針矯頑力在400Oe，測試的樣品磁性較強(qiáng)時建議使用高矯頑力的探針或者低磁矩探針。

12.有鍍層的針會不會更粗一些？
答：不會，一般探針針尖在2nm，鍍層可以鍍的厚度很薄，可以忽略。

13.AFM圖上出現(xiàn)波紋狀結(jié)構(gòu)是什么原因呢？
答：AFM圖上出現(xiàn)波紋考慮是激光干涉或機(jī)械振動，可以根據(jù)條紋的數(shù)量確定是高頻還是低頻噪聲，激光干涉的話需要重新調(diào)節(jié)激光的位置，機(jī)械振動的話檢查氣浮臺和真空吸附開關(guān)有沒有打開。

14.電化學(xué)原子力顯微鏡是哪種？
答：將接觸式的原子力顯微鏡用于電解質(zhì)溶液研究電極的表面形貌，其力的作用原理與大氣中的AFM相同。

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