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科學(xué)指南針-紅外光譜曲線的基線調(diào)整

2023-11-20 10:47 作者:bili_74204057874 0人讀過 | 我要投稿

在做紅外光譜（IR）測試時，科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對IR不太了解，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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紅外光譜測試是表征材料特征官能基團(tuán)種類和反應(yīng)過程中特征基團(tuán)變化的重要手段，可用于研究材料的分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵，表征和鑒別化學(xué)物種，并能定性或定量地研究反應(yīng)官能團(tuán)的含量變化情況。在利用紅外光譜對材料分子官能基團(tuán)進(jìn)行表征時，經(jīng)常會遇到紅外曲線基線不平的情況，不僅影響到美觀，而且不利于吸收特征峰之間的變化對比；本文以O(shè)rigin軟件為例，采用三種方法對紅外光譜曲線基線進(jìn)行調(diào)整。

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1.在Origin軟件中輸入需要分析的紅外譜圖數(shù)據(jù)

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首先，打開Origin軟件，Import ? Singles ASCII ??找到數(shù)據(jù)文檔存放位置???將文件類型選為All Files ??選擇將分析的數(shù)據(jù)文檔?? Open；輸入數(shù)據(jù)后的Origin界面如圖4所示。

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圖1

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圖2

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圖3

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圖4

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2.基線調(diào)整

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選中A（X1）和B（Y1）兩列數(shù)據(jù)，單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖，曲線基線出現(xiàn)明顯的不平整。

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圖5

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方法一：單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Reference Data ? Open Dialog… ??彈出如圖7所示對話框；在Input 1下拉選項(xiàng)中選擇B（Y），Reference Data下拉選項(xiàng)中選擇C（Y），在Output?下拉選項(xiàng)中選擇<new>，點(diǎn)擊OK，利用數(shù)據(jù)表中自動新增兩列數(shù)據(jù)（Subtract X1和Subtract Y1）作圖，修改后的Origin界面如圖9所示。

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圖6

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圖7

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圖8

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圖9

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方法二：選中A（X1）和B（Y1）兩列數(shù)據(jù)，單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖，單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Straight Line… ??彈出如圖11所示的Data Display對話框；在曲線左端左下角空白處雙擊添加基線的左側(cè)位點(diǎn)，再在曲線右端右下角空白處雙擊，以選取直線基線的兩端點(diǎn)，得到調(diào)整好基線的曲線圖，如圖12所示，圖中對話框?yàn)檎{(diào)整基線后的輸出結(jié)果日志。

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注意：在調(diào)整基線之前，一定要先將原始數(shù)據(jù)備份，因?yàn)檎{(diào)整基線后的數(shù)據(jù)會覆蓋原始數(shù)據(jù)；

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圖10

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圖11

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圖12

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方法三：選中A（X1）和B（Y1）兩列數(shù)據(jù)，單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖，點(diǎn)擊左側(cè)工具欄中的Draw Data/Free-form drawing of data???在曲線低點(diǎn)下方雙擊選取基線位點(diǎn)，如圖14所示；然后，單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Straight Line… ??彈出如圖16所示的Data Display對話框；在Reference Data下拉選項(xiàng)中選擇Plot（2）：B，在Output?下拉選項(xiàng)中選擇<new>，點(diǎn)擊OK，即在原曲線下方得到調(diào)整基線后的曲線圖，如圖17所示，調(diào)整后的曲線數(shù)據(jù)會自動存儲在另一個工作表中。