TT的這款電源也是正式通過了英特爾的ATX3.0認(rèn)證，也是為數(shù)不多的自帶測試報(bào)告的電源

今天就和大家分享一下

首先是測試設(shè)備

測試的配置，顯卡是選的3090TI，理論上可能還比4090峰值功耗更高

測試項(xiàng)目可以看到全部通過

首先是輸入測試

1.測試條件：

用標(biāo)稱線路電壓和最大負(fù)載測試電源

2.檢查：

根據(jù)規(guī)定，電源應(yīng)具有最低百分比的效率

負(fù)載條件如下表所示

電源效率過測

接下來是低負(fù)載測試

2%或10W電源負(fù)載

1.試驗(yàn)條件：

測試負(fù)載效率低的電源

2.檢查：

500W以上的電源額定值應(yīng)測試2%的效率

500W以下的電源額定值應(yīng)測試為10W有效

指定的加載條件如下表所示

過測

+5Vsb功率效率

1.試驗(yàn)條件：

用AC115和AC 230V電壓以及+5Vsb負(fù)載測試電源

2.檢查：

電源應(yīng)具有最低百分比的效率

在規(guī)定的載荷條件下，如下表所示

3.1.4 ERP Lot6標(biāo)準(zhǔn)

測試條件和測試結(jié)果

通過

3.2電源效率

1.試驗(yàn)條件：

（1.）測試低線和高線的電源輸入條件

（2.）測試負(fù)載條件，每個(gè)輸出軌道的最大負(fù)載規(guī)格

2.檢查：

在各種試驗(yàn)條件下檢查T1~T6

3.2.1通電時(shí)間

1.測試結(jié)果 通過

3.2.2輸出上升時(shí)間

1.測試結(jié)果

3.2.3電源良好延遲時(shí)間

1.測試結(jié)果

3.2.4電源良好信號上升時(shí)間

1.測試結(jié)果

電源良好非活動(dòng)至直流損耗延遲時(shí)間

1.測試結(jié)果

保持時(shí)間（交流損耗到直流損耗延遲時(shí)間）

交流電源接通時(shí)間

1.試驗(yàn)條件：

（1.）測試低線和高線的電源輸入條件

（2.）測試負(fù)載條件，每個(gè)輸出軌道的最大負(fù)載規(guī)格

檢查：

隨著計(jì)算機(jī)的新操作模式，如替代低功率模式（ALPM）

建議5VSB導(dǎo)軌的連續(xù)額定電流至少為3A。一些場景，如USB

ALPM中的電源充電可能需要5VSB軌道上的更多電流

12V DC/5V DC/3.3V直流電源序列

1.試驗(yàn)條件：

（1.）測試低線和高線的電源輸入條件

（2.）測試負(fù)載條件，每個(gè)輸出軌道的最大負(fù)載規(guī)格

2.檢查：

+12V1直流電/+12V2直流電和+5VDC輸出電平必須等于或大于

比+12V1直流電/+12V2直流電和+5VDC的+3.3 VDC輸出達(dá)到

調(diào)節(jié)水平最低，+3.3VDC達(dá)到調(diào)節(jié)水平最低

必須≤20ms，如下圖所示

3.2.9通電/斷電循環(huán)模式

1.試驗(yàn)條件：

使用示波器在空載時(shí)測量24針主連接器中的PG信號條件

2.檢查

當(dāng)PS_ON啟動(dòng)時(shí)，PG信號總是上升到“Hi”。

3.測試結(jié)果：通過

3.3.1.線路調(diào)節(jié)

1.1測試條件和檢查

目的：測量輸入電壓可變時(shí)輸出電壓的穩(wěn)定性

環(huán)境條件：溫度25℃，相對濕度65%

測試條件：

1.輸入電壓頻率必須在產(chǎn)品規(guī)格范圍內(nèi)的任何條件下

2.輸出負(fù)載為產(chǎn)品規(guī)格下所有輸出的滿負(fù)載

3.只有在SPS開啟約10分鐘后才能進(jìn)行測試

結(jié)果限制：輸出電壓不能超過允許的差值

3.3.3.交叉負(fù)荷調(diào)節(jié)

3.1測試條件和檢查

1.試驗(yàn)條件：

在低端到高端測試自動(dòng)測試儀的電源

在所有可能的情況下

除規(guī)定外的輸出負(fù)載組合

2.檢查：

直流輸出電壓應(yīng)保持符合規(guī)定

標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的范圍

在輸出的負(fù)載端測量時(shí)的規(guī)格連接器

3.3.4.瞬態(tài)響應(yīng)

4.1測試條件和檢查

1.試驗(yàn)條件：

如下條件表所示。

2.試驗(yàn)?zāi)康?/p>

在20%至50%負(fù)載的瞬態(tài)響應(yīng)下模擬PSU

下表不同變化重復(fù)的情況費(fèi)率條件

3.檢查：

與瞬態(tài)響應(yīng)負(fù)載和之前進(jìn)行比較

改變條件，電壓調(diào)節(jié)應(yīng)

請遵守規(guī)格見下表

3.3.5.輸出紋波和噪聲

5.1測試條件和檢查

1.試驗(yàn)條件：

在交流輸入低范圍和交流輸入高范圍接通UUT電源，

在下表所示的負(fù)載條件下測量的UUT

（噪聲帶寬為20MHZ。添加0.1uf陶瓷電容器與10uf鉭并聯(lián)用于紋波和噪聲測量的輸出連接器端子處的電容器。）

2.檢查：

測量輸出紋波和峰間電壓，電源紋波應(yīng)符合規(guī)范要求

（顯示在每個(gè)輸出的最壞情況下，并附上波形。如下所示）

3.3.6.動(dòng)載負(fù)荷

6.1測試條件和檢查

1.試驗(yàn)條件：如下條件表所示。

2.試驗(yàn)?zāi)康?/p>

負(fù)載模擬計(jì)算機(jī)的PSU負(fù)載條件

3.檢查：

PSU在測試過程中沒有任何關(guān)閉狀態(tài)和任何故障情況

3.3.7.PCIe*AIC峰值功率占空比測試

7.1測試條件和檢查

試驗(yàn)條件：如下條件表所示。

2.試驗(yàn)?zāi)康?/p>

在表上10%、20%、25%、50%負(fù)載情況下模擬PSU。

測試低壓線和高壓線的輸入電壓，每個(gè)占空比部件的測試時(shí)間為10分鐘。

3.檢查：

PSU在測試過程中沒有任何關(guān)閉狀態(tài)和任何故障情況

3.4.保護(hù)功能測試

3.4.1.過電壓保護(hù)（O.V.P）

3.1測試條件和檢查

3.4.2.過功率保護(hù)（O.P.P）

2.1測試條件和檢查

1.試驗(yàn)條件：

當(dāng)PSU的輸出負(fù)載功率過大時(shí)，測試低壓線和高壓線的輸入電壓

必須自我保護(hù)。

2.檢查：

（1.）檢查PSU超越電源保護(hù)點(diǎn)是否鎖定在規(guī)格范圍內(nèi)。

（2.）當(dāng)過載條件消除時(shí)，PSU可以重新啟動(dòng)并正常工作。

3.4.3.短路保護(hù)（S.C.P）

3.1測試條件和檢查

1.試驗(yàn)條件：

輸入電源在標(biāo)稱線路和UUT的電源上最小負(fù)載條件以及最大負(fù)載條件輸出負(fù)載

輸出負(fù)載條件（A）

+5V+3.3V+12V-12V+5Vsb

最小載荷0.0 0.0 0.0 0.0

2.檢查：

（1.）當(dāng)任何輸出短路時(shí)，檢查電源是否鎖存。電源可以通過AC線路正常開啟，或者如果短路故障被排除，則可以遠(yuǎn)程開啟。

（2.）短路+5Vsb應(yīng)使所有輸出保持低電平，直到短路電路被拆除

3.4.4.短路保護(hù)（S.C.P）

3.1測試條件和檢查

正式開始測試 顯卡則是30系三張

2.檢查：

（1.）測試儀在30厘米范圍內(nèi)不會(huì)聽到PSU發(fā)出的電子噪音。

（2.）箱子必須靠近側(cè)板。

（3）試驗(yàn)時(shí)間：1小時(shí)

3.4.2.磨合試驗(yàn)

1.試驗(yàn)條件：

a.后續(xù)系統(tǒng)設(shè)備b.測試軟件：O.C.C.T

編號：RS202206270001

2.檢查：

（1.）所有測試均未出現(xiàn)關(guān)機(jī)、重新啟動(dòng)或任何故障狀態(tài)。

（2）試驗(yàn)時(shí)間：1小時(shí)

結(jié)論

本產(chǎn)品經(jīng)過測試并通過了

適用于電源產(chǎn)品的Intel ATX 3.0。

在最新的顯卡3090 TI下，它也可以操作平穩(wěn)穩(wěn)定，確保最高性能

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