近期正式完成對(duì)所有測(cè)量?jī)x器特性的測(cè)量，用于儀器測(cè)定數(shù)據(jù)到原始數(shù)據(jù)映射，將在低成本范圍內(nèi)大幅提高儀器測(cè)量區(qū)間與性能。

主要面向高精度信號(hào)幅度與頻率測(cè)量。