隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，人們的生活變得越來(lái)越便利?，F(xiàn)下一些電子產(chǎn)品逐漸融入了人們的生活中，那么我們?cè)谶M(jìn)行電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的時(shí)候就需要進(jìn)行一定的可行性分析，以及生產(chǎn)過(guò)程中的可靠行設(shè)計(jì)。換言之，可靠性設(shè)計(jì)就是在生產(chǎn)前期進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)實(shí)驗(yàn)，總結(jié)出這件產(chǎn)品的質(zhì)量和可能遇到的問(wèn)題?？傊?，任何一件電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程都要有可靠性設(shè)計(jì)以及可靠性測(cè)試的過(guò)程。鑒于此，本文是對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試進(jìn)行了分析，僅供參考。

可靠性試驗(yàn)是為了確定已通過(guò)可靠性鑒定試驗(yàn)而轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否達(dá)到規(guī)定可靠性要求，驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性是否隨批量生產(chǎn)期間工藝，工裝，工作流程，零部件質(zhì)量等因素的變化而降低。只有經(jīng)過(guò)這些，產(chǎn)品性能才是可以信任的，產(chǎn)品的質(zhì)量才是過(guò)硬的。

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)?zāi)康耐ǔＳ腥缦聨追矫妫?/p>

1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況；

2、生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程提供信息；

3、對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收；

4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理；

5、為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的方法及分類(lèi)

一、如以環(huán)境條件來(lái)劃分，可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)；

二、以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)；

三、若按試驗(yàn)?zāi)康膩?lái)劃分，則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；

四、若按試驗(yàn)性質(zhì)來(lái)劃分，也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類(lèi)。

對(duì)電子元件常用的環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目有：

氣候試驗(yàn)：密封性試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)、氣壓試驗(yàn)、潮熱試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)。