編輯 | 環(huán)儀儀器

一、產(chǎn)品簡介：

高精度SSD RDT高溫測試柜為一款定制化設(shè)備，測試柜廣泛應(yīng)用于PCB電路板、電源電子、電腦產(chǎn)品、通訊、生物制藥、儀器儀表，航天材料、汽車部件、橡塑輪胎、太陽能逆變器

等領(lǐng)域產(chǎn)品的模擬在高溫環(huán)境下的老化篩選試驗。

二、技術(shù)參數(shù)：

三、基本配置：

測試柜配有平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC），以 PID 方式控制 SSR；

溫度控制，畫面顯示，計時功能，超溫保護(hù)，接地保護(hù)，風(fēng)機(jī)過載保護(hù)；

雙開門，大面積鋼化玻璃觀察窗，可觀察工作室狀況，內(nèi)置保溫層；

一拖十SATA接口獨(dú)立開關(guān)控制板卡；

履帶式抽拉抽屜，12V 控制電源，耐高溫線；

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：

抽拉式柜子容量大，插拔方便，產(chǎn)品水平插拔可以減少接口因產(chǎn)品重力造成的不良影響，提高板卡使用壽命；

采用12V轉(zhuǎn)5V電流供電方式，充分保證每個板卡供電的穩(wěn)定性，不懼大批量大容量產(chǎn)品測試；

產(chǎn)品區(qū)與供電電源隔離；

多個高精度溫度采集裝置，每層有獨(dú)立出風(fēng)口及進(jìn)風(fēng)口保證溫度更均勻；

產(chǎn)品可根據(jù)要求設(shè)置上電測試溫度。

五、實際應(yīng)用

SSD在生產(chǎn)過程中需進(jìn)行一次開卡測試、RDT壞塊測試、BIT機(jī)內(nèi)自測試和二次開卡測試等多項測試，以驗證其功能的完整性。這些測試都需要使用SSD RDT高溫測試柜來完成測試，因此，SSD RDT高溫測試柜在SSD生產(chǎn)過程中起到重要作用。

如有SSD RDT高溫測試柜的選型疑問，可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。