Agilent 4287A 射頻測試儀，

1MHz～3GHz，以100KHz分檔

·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

·在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性

·基本精度為1%

·高速測量9ms

Agilent4287A射頻測試儀

　　Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精 ，可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行精 測量。

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠

　　4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非?？臁４送?，在小測試電流(100μA)優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。

系統(tǒng)組建簡單

　　測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用

　　8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和 的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作 夾具。

技術(shù)指標

（全面的技術(shù)指標參見數(shù)據(jù)資料表）

測量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數(shù)）。

測試頻率：1MHz～3GHz

頻率分辨力：100KHz

測試信號：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz)

　　　　 I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)

電平監(jiān)視功能：電壓，電流

基本的Z精度：±1.0%

測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)

測量時間：每點9ms（高速）

Rdc測量：可用于觸點檢查

校準：開路/短路/負載/低損耗電容量

補償：開路/短路,電長度

大容量存儲功能：30MB固態(tài)大容量存儲或2GB硬盤（選擇選件）

接口：GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口

顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器

一般指標

電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax

工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80%

尺寸：234mm高×425寬×445mm深（主機）

重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭）

主要技術(shù)資料

4287A射頻LCR測試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E

4287A技術(shù)指標：p/n 5968-5758E

LCR測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E

?求購的附件

16190B性能測試配件

16195B校準工具箱

16191A側(cè)面電極夾具

16192A平行電極夾具

16193A小側(cè)面電極夾具

16194A高溫測試夾具

16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具

16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具

16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具