ICP測(cè)試儀器

2022-07-12 16:10 作者:bili_74204057874 0人讀過 | 我要投稿

在做電感耦合等離子體（icp）測(cè)試時(shí)，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對(duì)icp測(cè)試不太了解，針對(duì)此，科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；；

ICP-OES光譜分析已經(jīng)是非常成熟的元素分析技術(shù)了，各大儀器廠商提供的儀器技術(shù)上基本都已經(jīng)非常成熟，在這里簡(jiǎn)單的介紹一下安捷倫公司旗下的一款非常經(jīng)典的機(jī)型Agilent 720ES。同時(shí)，由于ICP-MS分析技術(shù)常和ICP-OES分析放在一起對(duì)比，所以我們也有必要簡(jiǎn)單的介紹一款I(lǐng)CP-MS儀器，這里要做介紹的ICP-MS型號(hào)是Agilent 7700X

（1）Agilent 720ES

安捷倫700系列光譜儀，是由原瓦里安公司光譜團(tuán)隊(duì)研發(fā)設(shè)計(jì)制造，之后原瓦里安的光譜業(yè)務(wù)被安捷倫收購(gòu)，所以在實(shí)驗(yàn)室見到Agilent 700和VARAN 700系列儀器其實(shí)完全是同一種型號(hào)的儀器。

安捷倫（瓦里安）ICP-OES 720ES 提供非常出色的檢測(cè)性能、十分快速的分析速度和非常高的穩(wěn)定性。并采用新一代 VistaChip II CCD 檢測(cè)器，具有極高的量子化效率，提供非常高的分析性能。整個(gè)檢測(cè)器實(shí)現(xiàn)：一次進(jìn)樣，同時(shí)檢測(cè)波長(zhǎng)從167 nm~785 nm之間所有的分析譜線，真正實(shí)現(xiàn)全譜直讀。極大地提高分析速度。光柵、棱鏡、檢測(cè)器均為固定安裝，整個(gè)單色器系統(tǒng)無任何移動(dòng)部件，確保儀器具有非常穩(wěn)定的光學(xué)性能。該儀器還提供了快速自動(dòng)譜線擬合技術(shù)（Fast Automated Curve-fitting Technique，F(xiàn)ACT），進(jìn)一步提高光譜分辨率，是強(qiáng)有力的譜線分離技術(shù)，對(duì)于部分元素間的排除光譜作用非常強(qiáng)大。

配合多種可選附件和強(qiáng)大的軟件平臺(tái)，720 ICP-OES 能夠滿足各種類型樣品的嚴(yán)苛分析需求。作為Agilent 700系列ICP的經(jīng)典機(jī)型，以其功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便，故障率低而深受元素分析類實(shí)驗(yàn)室歡迎。圖1為Agilent (VARAN) 720ES的實(shí)驗(yàn)室實(shí)拍圖。

圖1 Agilent(VARAN) 720ES儀器圖

（2）Agilent 7700X

安捷倫7700系列ICP-MS是世界上最小的商品化ICP-MS。它分析速度更快、操作更簡(jiǎn)便、靈敏度更高、背景噪音更低、消干擾效果更佳、應(yīng)用面更廣、維護(hù)更方便。7700系列具有適應(yīng)多種樣品類型、應(yīng)用范圍廣泛、性能穩(wěn)定耐用的特點(diǎn)，是大多數(shù)常規(guī)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行低含量元素分析的很好的選擇。

Agilent 7700X集合了可消除多原子干擾單一碰撞池模式簡(jiǎn)單性的特點(diǎn)以及扔在獨(dú)特的高基質(zhì)進(jìn)樣系統(tǒng) (HMI)優(yōu)良基質(zhì)耐受性的特點(diǎn)。八極桿反應(yīng)系統(tǒng)(ORS)技術(shù)具有更高的靈敏度、比以往復(fù)雜高基質(zhì)樣品中更高效的干擾消除，這使得在常規(guī)分析中不需要任何反應(yīng)池氣體。在有效的ORS下氦碰撞模式也就不需要任何干擾校正公式了。這兩個(gè)因素重新定義了ICP-MS的易用性，消除了復(fù)雜樣品多元素分析中最常見的兩種誤差來源。該儀器對(duì)于ppb級(jí)別的測(cè)試非常有優(yōu)勢(shì)，可以一次性完成多個(gè)元素的測(cè)試。圖2為廠家提供的Agilent 7700X實(shí)拍圖。