對(duì)于微型揚(yáng)聲器、耳機(jī)驅(qū)動(dòng)單元和其他薄結(jié)構(gòu)、懸掛簡單的換能器設(shè)計(jì)，搖擺模式是一個(gè)常見問題。

膜片上這些不希望有的傾斜共振經(jīng)常出現(xiàn)在通頻帶的低頻部分，在再現(xiàn)低音時(shí)會(huì)限制驅(qū)動(dòng)單元的穩(wěn)定性：由于搖擺模式的阻尼非常低，設(shè)計(jì)中很小的不均勻性就會(huì)觸發(fā)較大的傾斜角使得音圈撞到磁隙的邊界。線圈的摩擦將大大縮短揚(yáng)聲器的使用壽命，產(chǎn)生的過度脈沖失真也會(huì)降低產(chǎn)品的感知質(zhì)量。
搖擺模式分析 (RMA)可為解決此類問題提供必要的診斷信息。它相當(dāng)于一個(gè)后處理工具，在此之前需要使用激光測振儀（Klippel激光掃描儀系統(tǒng)SCN或通過POLY2SCN的Polytec LDV）進(jìn)行一個(gè)簡短的掃描來獲取振動(dòng)數(shù)據(jù)，除此之外還需要其TS參數(shù)（通過LPM測量或者直接手動(dòng)輸入）來驗(yàn)證其活塞模式振動(dòng)，然后通過RMA處理將不需要的搖擺模式從活塞模式中分離出來。

RMA可以識(shí)別機(jī)電系統(tǒng)中質(zhì)量、剛性和力因數(shù)分布的不平衡。還可量化每個(gè)根本原因?qū)φ麄€(gè)搖擺運(yùn)動(dòng)的貢獻(xiàn)，并揭示膜片上質(zhì)量、剛度和激勵(lì)力不平衡的中心位置。利用這些信息，可以發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié)并解決制造中的問題，有效降低輸出信號(hào)中音圈摩擦和脈沖失真的風(fēng)險(xiǎn)，對(duì)揚(yáng)聲器的質(zhì)量和可靠性大有裨益。

隨著dB-Lab 212的發(fā)布，我們也有了該模組的完整版本，其中有兩個(gè)改善用戶體驗(yàn)的新功能：

• 具有優(yōu)先級(jí)別的指導(dǎo)說明

在運(yùn)行完RMA模組之后，對(duì)其結(jié)果質(zhì)量的評(píng)估就會(huì)顯示在Errors/Warnings的結(jié)果窗口中，如上圖。提供的分級(jí)信息中會(huì)用綠色/淺綠色表示很好、可接受，而紅色背景顏色則表示錯(cuò)誤，淺橙色表示警告。如果出現(xiàn)了錯(cuò)誤/警告，可以在上面Info/Warnings/Errors中找到相應(yīng)的說明和指導(dǎo)方案，幫助用戶逐步提升擬合結(jié)果。

• 搖擺級(jí)別的嚴(yán)重程度分級(jí)

進(jìn)行搖擺模式分析首先就需要判定搖擺問題的嚴(yán)重程度，用RRL表示，即活塞模式包含的能量（AAL0）和搖擺模式1/2中包含的能量（AAL1和AAL2）之間的dB差異值。一般RRL小于-20dB的搖擺模式并不重要。

除此之外，KLIPPEL也發(fā)布了關(guān)于RMA的新應(yīng)用筆記?AN80 Rocking Mode Analysis on Headphone Transducers，不僅詳細(xì)介紹了如何根據(jù)SCN掃描情況判斷DUT是否有嚴(yán)重的搖擺模式/是否需要進(jìn)一步進(jìn)行搖擺模式分析，對(duì)于產(chǎn)生搖擺模式的根本原因也給出了一些指導(dǎo)性的措施，而且最后還給出了從SCN掃描到RMA分析的分步步驟指導(dǎo)說明，無論對(duì)工程師還測試員來說都非常有幫助。