電子高低溫沖擊測(cè)試 冷熱沖擊試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試材料、元器件、產(chǎn)品等在溫度變化環(huán)境下的耐久性和可靠性的設(shè)備。該設(shè)備可以模擬極端環(huán)境下的溫度變化情況,以評(píng)估測(cè)試材料或產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱通常包括控制系統(tǒng)、加熱和制冷系統(tǒng)、樣品夾具等組成部分。測(cè)試時(shí),樣品被放置在樣品夾具中,然后通過(guò)控制系統(tǒng)控制加熱和制冷系統(tǒng)對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度進(jìn)行變化,以模擬不同的溫度環(huán)境。在溫度變化的過(guò)程中,可以對(duì)樣品的性能和可靠性進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子、電器、汽車、航空航天等領(lǐng)域,可以幫助用戶評(píng)估材料、元器件、產(chǎn)品的性能和可靠性,確定其在極端溫度環(huán)境下的使用壽命和可靠性,并為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造提供參考依據(jù)。
性能技術(shù)參數(shù):
規(guī)格型號(hào):HE-LR-50/80/100/150/252/480
容量:50升、80升、100升、150升、252升、480升
內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750(MM)
試驗(yàn)溫度范圍:S表示:-40℃~+150℃
???????? ?????W表示:-55℃~+150℃
????????? ????L表示:-65℃~+150℃
低溫槽溫度范圍:-55℃~-10℃、-70℃~-10℃、-80℃~-10℃
高溫槽溫度范圍:+60℃~+200℃,升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動(dòng)度:±2.0℃
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:10S