符合IEC TR 62660-4測試用陶瓷針

強(qiáng)制內(nèi)部短路是在電芯內(nèi)放入微小的鎳粒，然后施加一定的壓力進(jìn)行擠壓，目標(biāo)是要造成電芯內(nèi)部正負(fù)極間單層短路，模擬因?qū)щ娢⒘Ｎ廴镜碾娦緝?nèi)部短路

IEC 62660-4的針刺方法可作為強(qiáng)制內(nèi)短路測試的一種替代方法，采用的陶瓷針有兩種：

一種是直徑3mm±0.2mm的陶瓷針，末端角度為45°±3°

另一種是直徑1mm±0.1mm的陶瓷針，末端為高度為0.35mm的鎳材料，鎳尖端角度在28~45之間（見圖2）

【測試方法】

壓頭將針按0.1m/s的速度緩慢刺入電芯，當(dāng)檢測到電芯的電壓降達(dá)到5mv時停止刺入，保持1小時

【判斷依據(jù)】不起火，不爆炸

【標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)】

如果客戶與供應(yīng)商都同意，IEC62660-3允許用對更高層級的熱失控評估，例如模塊、電池包或電池系統(tǒng)的測試，作為強(qiáng)制內(nèi)短路的替代方法