關(guān)于工業(yè)CT斷層掃描X射線掃描檢測的工作流程?，三本工業(yè)測量儀器公司講解如下：

由于數(shù)據(jù)處理用到的算法大同小異，故工業(yè)CT的精度主要取決于采集投影數(shù)據(jù)的精度，主要涉及到CT的射線源，探測器及機械結(jié)構(gòu)。一般來說，焦點尺寸越小，探測器探元尺寸越小，空間分辨率越高，工業(yè)CT的精度越高。同時，由于工業(yè)CT成像和重建過程均會放大誤差，故機械結(jié)構(gòu)（包括X/Y/Z軸及轉(zhuǎn)臺）很大程度上決定了CT的絕對精度。用于測量的工業(yè)CT需要配置三軸及轉(zhuǎn)臺光柵尺。

按照VDI 2630，一般用形狀探測誤差（Form Probing Error）、尺寸探測誤差（Size Probing Error）及球心距誤差（Sphere Distance）來定義CT的精度，如下圖：

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