XRD測(cè)試作為常用測(cè)試之一，但仍有許多同學(xué)不太了解，本篇文章由科學(xué)指南針科研服務(wù)平臺(tái)給大家介紹XRD樣品的問(wèn)題。

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XRD粉末要磨到200目才能測(cè)試嗎

@指南針長(zhǎng)沙范老師

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做一個(gè)測(cè)試，

尤其是做好一個(gè)測(cè)試，

需要多方面的因素去促成，

每一個(gè)好的測(cè)試結(jié)果，

通俗的說(shuō)其實(shí)也是一個(gè)“天時(shí)地利人和’的過(guò)程。

今天與大家聊聊xrd測(cè)試

過(guò)程的那些“小事”。

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A小主：

你好，

我們?cè)趯W(xué)校XRD都是直接拿粉末去測(cè)試，

你們?cè)趺茨敲绰闊?/p>

樣品最好要200目左右，

還最好要過(guò)篩······

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小編編：

粉末顆?；蚓ЯＬ?，

參加衍射的晶粒少，

會(huì)使衍射線(xiàn)條起麻，

但粉末顆粒或晶粒過(guò)細(xì)時(shí)，

會(huì)使衍射線(xiàn)條變寬，

這些都不利于分析工作。

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?(一本正經(jīng)的回答，

生怕同學(xué)以為我只是隨隨便便說(shuō)說(shuō)，

不去磨樣······)

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B小主：

XRD測(cè)試樣品成分我就隨便簡(jiǎn)單的寫(xiě)下，

老師按測(cè)試單測(cè)試就可以了。

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小編編：

磁性材料要注意擇優(yōu)取向的，

親，粉末可以抑制這種取向趨勢(shì)。

"擇優(yōu)取向"

會(huì)使很多本來(lái)有的衍射峰出不來(lái)。

寫(xiě)清楚成分，更加方便測(cè)試?yán)蠋煖y(cè)試的哦

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說(shuō)到取向，

細(xì)針狀微晶粉末樣品做 XRD大家一定要注意。

它擇優(yōu)取向是很難避免的，

只能盡力減少他的影響。

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首先，

你要講樣品磨得盡量細(xì)

（但要適度，

要注意樣品的晶體結(jié)構(gòu)

不要因研磨過(guò)度而受到損壞）；

也不要在光滑的玻璃板上大力壓緊······

太難了，真心難，

實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)， 真的是試試驗(yàn)驗(yàn)。

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當(dāng)然還有那些帶基底薄膜樣品基底材質(zhì)出峰？

纖維樣品的測(cè)試

應(yīng)該是平行照射還是垂直照射？

樣品測(cè)試面要不要標(biāo)注？

······

一大堆的“坑“在等著大家。

注意，

遇到問(wèn)題不要慌，

有問(wèn)題一定要及時(shí)反饋我們哦，

指南針愿意和大家一起跨過(guò)山和大海

關(guān)于XRD測(cè)試，今天就分享到這里。如果內(nèi)容對(duì)你有幫助，希望大家不要吝嗇點(diǎn)個(gè)贊哦，我們會(huì)繼續(xù)給大家輸出更多優(yōu)質(zhì)內(nèi)容~

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