正點(diǎn)原子STM32H743IIT6_ADC1采樣端口影響采樣結(jié)果
測試用的原子的阿波羅F4/F7/H7底板,主控芯片為STM32H743IIT6;
使用Timer2,ADC1,DMA1_Steam0,2S定時,5通道掃描,DMA循環(huán)搬運(yùn);
使用CubeMX生成工程;
ADC使用200M的AHB總線時鐘,同步4分頻;

先說結(jié)論
PA1采樣效果極差,并會對其他端口的采樣效果造成不同程度影響;
測試5通道中,使用PA3,PA4,PA5,PA6,PA7,5個通道采樣效果最好;

以下為測試過程;
使用端口PA0,PA1,PA5,PA6,PA7時效果:
首先只接PA0進(jìn)行測試

可以看到PA0采樣會有小范圍波動,但不算大,還在可接受范圍;
同時可以看另外4個引腳,雖然懸空,但PA5,PA6,PA7都是在小范圍內(nèi)波動,唯獨(dú)PA1波動范圍極大(最小0.77到最大2.37);
接下來將PA1接入采樣

和只用PA0接3.3V的結(jié)果對比,可以明顯看到PA1的接入對結(jié)果造成了極大影響,PA0甚至出現(xiàn)了最低2.8V的情況。同時PA1本身的測量誤差也是極大;
繼續(xù),將5個通道全部接入采樣

框出來的位置仍然出現(xiàn)了較大的測量誤差;
接下來,去掉PA1,令其懸空,觀察剩下4個端口的采樣結(jié)果

可以明顯看到去掉PA1之后另外4個通道采樣值穩(wěn)定了很多,雖然仍有波動,但不會出現(xiàn) 2.??V的情況;
由以上測試得出:PA1采樣效果較差,并會對其他端口造成影響,干擾所有端口的采樣準(zhǔn)確性;

將通道改換,5個通道分別改為:PA3,PA4,PA5,PA6,AP7,并全部接到3.3V采樣;
測試如下:

可以看到全部顯示3.300V,沒有誤差產(chǎn)生,采樣效果極佳;
新手入門,如有不嚴(yán)謹(jǐn)及錯誤之處,還望批評指正;
以上;
僅作為學(xué)習(xí)筆記,備忘。