碳K-edge是碳原子的X射線吸收邊緣，其在軟X射線光譜學(xué)中具有重要的應(yīng)用?；谔糑-edge的X射線掃描透射顯微成像（STXM）的研究已經(jīng)相當(dāng)廣泛，但基于碳K-edge X射線疊層成像（Ptychography）的研究卻鮮有報(bào)道。

2022年，法國(guó)SOLEIL同步輻射中心的相關(guān)研究人員利用鑫圖軟X射線相機(jī)實(shí)現(xiàn)了對(duì)碳K-edge疊層成像、光譜和線性二向色的拼圖測(cè)量，其研究結(jié)果驗(yàn)證了碳K-edge疊層成像技術(shù)在空間分辨率和圖像質(zhì)量方面的優(yōu)勢(shì)，以及應(yīng)用于高分辨率光譜顯微術(shù)的可行性。

Dhyana XF95應(yīng)用優(yōu)勢(shì)分析

疊層成像是一種需要基于高速檢測(cè)器、大量數(shù)據(jù)采集和計(jì)算能力構(gòu)建的成像技術(shù)，具有大視場(chǎng)、高分辨率的成像優(yōu)勢(shì)。隨著第三代、第四代同步輻射光源技術(shù)的發(fā)展，X射線顯微疊層成像技術(shù)在過(guò)去十年中發(fā)展迅速，但由于目前軟X射線的探測(cè)器大多數(shù)使用的是背照式CCD，圖像傳輸速度很慢，且大多數(shù)科學(xué)CCD相機(jī)對(duì)能量低于500eV 的靈敏度有限，一定程度上限制了這一技術(shù)的發(fā)展。

鑫圖Dhyana XF95采用的新一代無(wú)抗反射鍍膜芯片，在80-1000eV區(qū)間的量子效率整體超過(guò)了90%，甚至在部分波段達(dá)到了近乎100%的水平，且相機(jī)在全分辨率（2048 × 2048）模式下的傳輸速度可以達(dá)到24幀/秒，是傳統(tǒng)背照式CCD的數(shù)十倍，完全可作為背照式CCD軟X射線疊層成像的替代檢測(cè)器，應(yīng)用于以往受限的各類(lèi)領(lǐng)域中。

參考文獻(xiàn)

Mille, N., Yuan, H., Vijayakumar, J. et al. Ptychography at the carbon K-edge. Commun Mater 3, 8 (2022). https://doi.org/10.1038/s43246-022-00232-8

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