電工電子低溫試驗|低溫貯存試驗|低溫啟動試驗機構(gòu)
低溫試驗屬于氣候環(huán)境試驗中比較常用的測試類型。
低溫試驗?zāi)康?/strong>
確定產(chǎn)品在低溫貯存或低溫工作條件下的環(huán)境適應(yīng)性能力。
低溫試驗內(nèi)容:
低溫工作試驗、低溫貯存試驗、低氣啟動或冷啟動試驗
低溫試驗的適用場合:
低溫試驗主要適用于可能會遭受到低溫環(huán)境影響的產(chǎn)品,用低溫環(huán)境試驗來激發(fā)產(chǎn)品的固有缺陷。
低溫試驗的測試條件:
低溫溫度點、低溫試驗時間、溫度變化速率。
低溫試驗的時間:
低溫工作試驗一般至少為2小時,貯存為12小時或24小時等,測試時長根據(jù)產(chǎn)品實際運用的環(huán)境以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)有明晰的規(guī)定,這個測試時間可以根據(jù)實際情況進行選擇。低溫工作試驗一般比低溫貯存試驗的溫度點相對寬松,工作或啟動試驗屬于要通電進行性能測試,相對嚴(yán)苛。
低溫環(huán)境試驗屬于極限應(yīng)力的環(huán)境適應(yīng)性試驗測試類型,在進行試驗前,需要明確了解用戶方以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對于產(chǎn)品的低溫實驗要求。
低溫試驗標(biāo)準(zhǔn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫GB/T2423.1-2008,IEC60068-2-1:2007
包裝運輸包裝件基本試驗第2部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T4857.2-2005,ISO2233:2000
汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件QC/T413-2002
電子測量儀器通用規(guī)范GB/T6587-2012
計算機通用規(guī)范第1部分:臺式微型計算機GB/T9813.1-2016
計算機通用規(guī)范第2部分:便攜式微型計算機GB/T9813.2-2016
計算機通用規(guī)范第3部分:服務(wù)器GB/T9813.3-2017
計算機通用規(guī)范第4部分:工業(yè)應(yīng)用微型計算機GB/T9813.4-2017
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分:低溫試驗GJB150.4A-2009
鐵路地面信號產(chǎn)品高溫及低溫試驗方法TB/T2953-2015
軌道交通機車車輛電子裝置EN50155:2017
深圳安車昇輝檢測秉承:管理科學(xué),公平公正;操作規(guī)范、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確;安全保密,廉潔自律的質(zhì)量方針和第三方實驗室的職業(yè)道德,竭誠為廣大客戶提供試驗標(biāo)準(zhǔn),檢測,認(rèn)證工作等全方位服務(wù)。