【2024暢研材科基帶背】第6期 晶體結(jié)構(gòu)五/晶體缺陷一 材料科學(xué)基礎(chǔ) 沖...

DAY 6
鮑林規(guī)則(離子晶體的結(jié)構(gòu)規(guī)則)
1.負離子配位多面體規(guī)則
2.電價規(guī)則
3.負離子多面體共用頂,棱和面規(guī)則
4.不同種類正離子配位多面體間連接規(guī)則
5.節(jié)約規(guī)則
典型離子晶體結(jié)構(gòu)
第一重要:NaCl型,面心立方結(jié)構(gòu),正負離子配位數(shù)為6,晶胞分子數(shù)為4
第二重要:CsCl,立方ZnS,CaF2
了解:六方ZnS CaTiO3
晶體結(jié)構(gòu)缺陷
晶體缺陷:由熱運動(內(nèi)因),晶體形成條件,冷熱加工等(外因)導(dǎo)致原子排列不那么規(guī)則完整。
分類:點缺陷,線缺陷,面缺陷
點缺陷類型:
空位,間隙原子,溶質(zhì)原子
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