低溫試驗

-30±2℃環(huán)境中放置4h，常溫下放置2h后，各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求，且外觀無變形、翹曲、脫膠等異常現(xiàn)象。

溫度范圍：-70℃~10℃。

按GB/T2423.1-89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》；

GB/T2423.22-87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》

進行低溫試驗及溫度變化試驗。

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