北京環(huán)境應(yīng)力篩選可靠性實(shí)驗(yàn)室CNAS檢測(cè)報(bào)告 GJB1032A-2020電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)主要針對(duì)印制電路板組件、電子組件、整機(jī)或系統(tǒng)進(jìn)行，對(duì)地面固定設(shè)備、移動(dòng)設(shè)備、船用設(shè)備、飛機(jī)用設(shè)備或其他設(shè)備在產(chǎn)品研制階段和批生產(chǎn)階段進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。環(huán)境應(yīng)力篩選是對(duì)產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力，來(lái)發(fā)現(xiàn)和剔除制造過(guò)程中的不良零件、元器件和工藝缺陷等早期故障的一種工序或方法。

篩選產(chǎn)品的要求：
具有性能檢查和測(cè)試合格的控制證明；去除包裝物及減振裝置；有冷卻系統(tǒng)的產(chǎn)品，在不超過(guò)設(shè)計(jì)極限的前提下，應(yīng)關(guān)閉冷卻系統(tǒng)。

溫度循環(huán)篩選箱應(yīng)滿足下列要求：
1、應(yīng)具備足夠的高低溫工作范圍，平均溫變速率≥10℃/min;2、篩選箱熱源的位置布置不應(yīng)使輻射熱直接到達(dá)篩選產(chǎn)品；3、用于控制箱內(nèi)溫度的電熱偶或其他形式的溫度傳感器應(yīng)放置于篩選箱內(nèi)部的循環(huán)氣流中，并加以遮擋來(lái)防止輻射的影響；4、高低溫循環(huán)的氣流應(yīng)適當(dāng)導(dǎo)引以使篩選產(chǎn)品周圍的溫度場(chǎng)均勻；5、箱內(nèi)空氣溫度和濕度應(yīng)加以控制，使產(chǎn)品在篩選期間表面不出現(xiàn)凝露。

溫度循環(huán)篩選的條件：
1、高低溫極限值；2、高低溫保持時(shí)間；3、一次循環(huán)時(shí)間（一般為3h20min或4h）；4、溫度變化速率（溫變率≥10℃/min）;5、溫度循環(huán)次數(shù)（對(duì)于缺陷剔除一般不少于10次）。

隨機(jī)振動(dòng)篩選條件：
1、隨機(jī)振動(dòng)譜；2、施振軸向的確定；3、振動(dòng)時(shí)間（缺陷剔除階段一般為5min，無(wú)故障檢驗(yàn)階段為5min~15min,采用一個(gè)軸向或多個(gè)軸向振動(dòng)時(shí)候，一般不超過(guò)20min。）

環(huán)境應(yīng)力篩選的過(guò)程：
1、初始性能檢測(cè)—應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)規(guī)范進(jìn)行外觀或性能檢測(cè)并記錄，進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)，測(cè)試時(shí)間一般為5min；2、環(huán)境應(yīng)力篩選—分為兩類，一類是缺陷剔除階段10個(gè)循環(huán)（隨機(jī)振動(dòng)+溫度循環(huán)），一類是無(wú)故障檢驗(yàn)階段的10-20個(gè)循環(huán)的（隨機(jī)振動(dòng)+溫度循環(huán)）測(cè)試；3、最后性能檢測(cè)—進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)，測(cè)試時(shí)間為5min~15min。檢測(cè)試驗(yàn)找彭工V一三六九一零九三五零三，一站式產(chǎn)品檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。