蔡司 Sigma 系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術與出色的用戶體驗相結合。構建您的成像和分析程序并提高生產(chǎn)力。從一套檢測器選項中進行選擇。進入*端成像領域：Sigma 300 提供的價格和性能，而 Sigma 500 的 EDS 幾何結構提供分析性能。

靈活檢測清晰圖像

自動化并加快您的工作流程

執(zhí)行高級分析顯微鏡

靈活檢測清晰圖像

使用*新的檢測技術根據(jù)您的需求定制 Sigma，并對您的所有樣品進行表征。

蔡司掃描電鏡圖像

三本精密儀器使用環(huán)形反向散射檢測器 (aBSD) 表征成分、晶體學和表面形貌。它在所有真空條件下都能提供出色的低 kV 圖像。受益于更高的靈敏度、更高的信噪比和更快的速度。

享受新一代的二次電子 (SE) 探測器。受益于 Sigma 在可變壓力模式下的 C2D 和 VPSE 探測器：在低真空下工作，您可以獲得對比度高達 85% 的清晰圖像。

礦物礦石，碳酸鑭磷酸鹽粘合劑。Sigma 500，1 kV，Inlens Duo BSE 檢測器左側，Inlens SE 右側。

通過 4 步工作流程控制 Sigma 的功能。受益于快速成像并節(jié)省培訓時間——尤其是在多用戶環(huán)境中。

首先，瀏覽您的樣品，然后設置*佳成像條件。接下來，自動獲取多個樣本的圖像，并在上下文中可視化您的結果。

SmartSEM Touch 將您的數(shù)據(jù)顯示為交互式地圖，以便您完全了解您的樣品。

執(zhí)行高級分析顯微鏡

結合掃描電子顯微鏡和元素分析：Sigma *流的 EDS 幾何結構可提高您的分析效率，尤其是在光束敏感樣品上。

以一半的探頭電流和兩倍的速度獲取分析數(shù)據(jù)。

在您的 FE-SEM 中實現(xiàn)完整、無陰影的分析。使用 8.5 mm 的短分析工作距離和 35° 的起飛角，從中獲益。

靈活的檢測

Sigma 具有一套不同的檢測器。使用*新的檢測技術表征您的樣品。使用 ETSE 和 Inlens 探測器獲取高真空模式的地形、高分辨率信息。使用 VPSE 或 C2D 檢測器在可變壓力模式下獲得清晰的圖像。使用 aSTEM 檢測器生成高分辨率透射圖像。使用 aBSD 檢測器研究成分和地形。

東莞三本精密儀器有限公司是一家專注于高端品牌測量儀器銷售和服務的專業(yè)公司。

蔡司第一屆經(jīng)銷商大會，三本得到華南區(qū)域授權代理商資格，應用服務中心成立。

在這里我們將為您提供產(chǎn)品銷售及測量演示、操作培訓、程序編制和檢測服務。

如果您有產(chǎn)品需求，歡迎聯(lián)系我們蔡司授權商-三本工業(yè)測量儀器http://www.zeissct.com/

http://www.saben.com.cn/