北京哪里可以做汽車電子零部件電磁兼容性測(cè)試,汽車零部件電磁兼容檢測(cè)，第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)，CNAS實(shí)驗(yàn)室，提供國(guó)家認(rèn)可檢測(cè)報(bào)告，CNAS檢測(cè)報(bào)告，CMA檢測(cè)報(bào)告。檢測(cè)試驗(yàn)找儀綜所實(shí)驗(yàn)室彭光瓊V一三六九一零九三五零三。

1、ESD測(cè)試是通過(guò)靜電放電模擬器對(duì)零部件的表面、線束、開(kāi)關(guān)接口、遠(yuǎn)端I/O、耦合板等部位進(jìn)行空氣放電或者接觸放電。靜電放電抗干擾一般分為直接電弧干擾和靜電場(chǎng)干擾，通過(guò)觀察放電電弧和被干擾產(chǎn)生的現(xiàn)象能快速定位引起抗干擾測(cè)試失敗的原因。

2、CTI-P電源線瞬態(tài)抗擾度

CTI-P測(cè)試是對(duì)汽車電子零部件的低壓電源線注入車上其他零部件開(kāi)啟、斷開(kāi)或關(guān)閉瞬間產(chǎn)生的電源波動(dòng)干擾。引起失敗的原因常是電源線端口的防護(hù)設(shè)計(jì)不當(dāng)。

3、CTI-S信號(hào)/控制線瞬態(tài)耦合抗擾度

CTI-S測(cè)試是汽車電子零部件的信號(hào)/控制線感應(yīng)到車上斷開(kāi)較大感性負(fù)載的部件或其他部件開(kāi)關(guān)過(guò)程中產(chǎn)生的瞬態(tài)干擾。常常是因?yàn)樾盘?hào)端口的防護(hù)設(shè)計(jì)不當(dāng)引起，可依次對(duì)線束測(cè)試，從而進(jìn)行快速定位。

4、MFI低頻磁場(chǎng)抗擾度

MFI測(cè)試是考驗(yàn)汽車電子零部件在強(qiáng)電磁環(huán)境下抗干擾的能力。引起失敗的原因與車上的關(guān)鍵磁性器件或者低頻通訊有關(guān)，通過(guò)觀察干擾時(shí)出現(xiàn)的現(xiàn)象和干擾區(qū)域較易進(jìn)行定位。

5、BCI大電流注入抗擾度

BCI測(cè)試是通過(guò)感性的耦合鉗將中、低頻的電磁干擾耦合到樣品的線束上。由于BCI的一般測(cè)試要求是所有線束一起測(cè)試，所以在進(jìn)行定位時(shí)，需要對(duì)容易受干擾的線束分別進(jìn)行測(cè)試，從而排查出受干擾的線路，再來(lái)調(diào)整其防護(hù)設(shè)計(jì)。

6、RI空間輻射抗擾度

RI測(cè)試時(shí)通過(guò)天線將中、高頻的電磁干擾空間輻射到樣品或線束上。定位時(shí)，可以通過(guò)對(duì)被測(cè)樣品或線束分別進(jìn)行屏蔽，來(lái)確認(rèn)干擾的路徑是線束還是樣品，再有針對(duì)性的進(jìn)行整改。

7、PTI便攜式發(fā)射機(jī)射頻抗擾度

PTI測(cè)試是通過(guò)手持式射頻干擾模擬器將干擾直接耦合到樣品或線束上，測(cè)試中可根據(jù)具體的失敗現(xiàn)象和干擾的區(qū)域來(lái)進(jìn)行定位。