借助電路分析與仿真理解EMI

對(duì)于EMI問(wèn)題,傳統(tǒng)的解決方法是基于實(shí)際的評(píng)估板進(jìn)行調(diào)試和優(yōu)化(如圖1左圖所示),但這種手段往往有很多局限,而且往往會(huì)帶來(lái)很多的時(shí)間成本和不確定性。如果可以事先對(duì)EMI進(jìn)行建模和仿真,就有助于評(píng)估各個(gè)因素對(duì)于EMI的影響,從而提高整改效率,甚至可以預(yù)先對(duì)EMI進(jìn)行設(shè)計(jì)(如圖1右圖所示)。在本次的分享中,對(duì)于傳導(dǎo)和輻射EMI,我們分別介紹了主要影響EMI的因素,以及如何通過(guò)電路仿真來(lái)得到EMI頻譜。

一、EMI電路仿真模型
在EMI仿真中,我們實(shí)際需要得到的,是在EMI接收機(jī)上面的結(jié)果。對(duì)于傳導(dǎo)EMI來(lái)說(shuō),這個(gè)結(jié)果是LISN上的電壓,對(duì)于輻射EMI來(lái)說(shuō),這個(gè)結(jié)果則是測(cè)試天線測(cè)到的電場(chǎng)強(qiáng)度。因此,要使得仿真模型與EMI測(cè)試結(jié)果吻合,首先要在仿真中模擬出測(cè)試中的真實(shí)情況。
在之前的分享中(非隔離型變換器電磁干擾(EMI)的分析與建模方法),我們介紹了EMI模型如何推導(dǎo),以及模型中各個(gè)元件的高頻阻抗如何得到。在圖2中,我們直接以一個(gè)buck電路為例,給出使用替代定理之后得到的EMI模型。
在仿真中,我們主要需要得到的是以下參數(shù)(如圖2所示):
傳導(dǎo)EMI:電源線和地線LISN上的電壓VP, VN。
高頻(30MHz以上)輻射EMI:變換器的等效共模電壓VCM。
低頻(30MHz以內(nèi))輻射EMI:變換器的等效共模電壓VCM以及電感上的壓降VL。

因此,可以看出,只要有噪聲源IS1, VS2的值,我們即可通過(guò)時(shí)域仿真得到Vp,Vn,VCM,VL等參數(shù),再經(jīng)過(guò)后續(xù)處理,就能得到想要的結(jié)果了。多數(shù)的電路仿真軟件都可以實(shí)現(xiàn)這一目的。需要注意的是,在傳導(dǎo)測(cè)試和輻射測(cè)試中,由于測(cè)試布置不同,仿真中的一些雜散參數(shù)(如ZP, ZOUT等)也是不同的,需要分別進(jìn)行提取。
在實(shí)際仿真中,我們一般有兩種方式得到IS1, VS2的值。一是在測(cè)量中直接測(cè)出SW電壓和開(kāi)關(guān)管電流,將數(shù)據(jù)導(dǎo)入仿真軟件進(jìn)行仿真;二是將開(kāi)關(guān)管的模型也加入仿真,在仿真中直接得到結(jié)果。目前,前者的應(yīng)用較為普遍。后者往往需要芯片的EMI模型,因此也需要芯片供應(yīng)商的支持。無(wú)論用哪種方法,為了提高數(shù)據(jù)處理的分辨率,都需要有足夠長(zhǎng)的仿真時(shí)長(zhǎng)。如果需要仿真出抖頻對(duì)于EMI結(jié)果的影響,需要至少仿真一到兩個(gè)抖頻周期。
二、傳導(dǎo)EMI的仿真處理
根據(jù)電路仿真的結(jié)果,我們可以得到VP和VN。但是,EMI的最終結(jié)果是在頻域上體現(xiàn)的,因此,我們需要將時(shí)域波形轉(zhuǎn)為頻域波形。另外,如果需要共模噪聲和差模噪聲,在仿真后可以根據(jù)等式(1)、(2)對(duì)VP和VN進(jìn)行后續(xù)處理,得到VCM(共模電壓)和VDM(差模電壓)。另外,也可以通過(guò)交流分析來(lái)得到噪聲源和噪聲之間對(duì)應(yīng)的傳遞函數(shù)。

圖3展示了仿真所需要的輸入?yún)?shù)和輸出參數(shù)。

如果仿真軟件自帶EMI接收機(jī)或者頻譜儀,我們可以根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),來(lái)設(shè)置它的參數(shù)(如RBW, QP/AV detector等)。否則,我們可以對(duì)時(shí)域數(shù)據(jù)進(jìn)行處理[1],來(lái)得到和EMI接收機(jī)相似的結(jié)果。圖4為一個(gè)非隔離變換器的傳導(dǎo)仿真和實(shí)際測(cè)試的結(jié)果對(duì)比示例。在準(zhǔn)確提取EMI元件和PCB阻抗的前提下,EMI仿真可以較為準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)一個(gè)變換器的傳導(dǎo)EMI結(jié)果。

三、高頻(30MHz以上)輻射EMI的仿真手段
高頻輻射EMI中,測(cè)試板的輸入、輸出線纜形成了一個(gè)雙極天線,它產(chǎn)生的輻射占主導(dǎo)地位。圖2中的VCM即為雙極天線的激勵(lì)源。如(3)所示,如果我們知道雙極天線的激勵(lì)到接收天線的傳遞函數(shù)GCable,我們就知道了EMI接收機(jī)上能夠測(cè)到的電壓信號(hào)VRE。它的頻譜即為輻射EMI的結(jié)果。

公式(3)中的VCM的頻譜可以通過(guò)電路仿真得到。而GCable可以通過(guò)測(cè)試得到。在EMI測(cè)試中,線束長(zhǎng)度往往是確定的,我們可以根據(jù)EMI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的線束長(zhǎng)度和擺放方式,在輸入和輸出線之間加一個(gè)單位激勵(lì),根據(jù)EMI接收機(jī)得到的頻譜來(lái)得到GCable。由此,最后的EMI結(jié)果就可以得到了。圖5為高頻輻射EMI電路仿真需要的輸入?yún)?shù)和輸出參數(shù)。
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