020-PathWave Electrical Performance Scan (EP-Scan) 2023
PathWave電氣性能掃描(EP掃描)2023 | 828.1 mb
Keysight Technologies,Inc.是一家領(lǐng)先的技術(shù)公司,提供先進的設(shè)計和驗證解決方案,幫助加快創(chuàng)新,以連接和保護世界。該公司推出了Electrical Performance Scan(EP-Scan)2023,這是一款新的高速數(shù)字仿真工具,支持硬件工程師和印刷電路板(PCB)設(shè)計師進行快速信號完整性(SI)分析。
Keysight為硬件工程師推出信號完整性仿真軟件
在完成PCB設(shè)計后,硬件工程師將設(shè)計移交給SI專家,以在進行原型之前驗證其性能。SI專家對大量網(wǎng)絡(luò)進行模擬,這可能需要幾天到幾周的時間才能完成。因此,硬件工程師很難預(yù)測在設(shè)計中發(fā)現(xiàn)錯誤或性能問題所需的分析時間。SI分析階段長度的不確定性會在設(shè)計周期中造成瓶頸,并延遲上市時間。
EP Scan通過為硬件設(shè)計人員提供診斷工具來解決SI分析瓶頸,從而更早地糾正設(shè)計并滿足開發(fā)計劃。作為一個獨立的軟件產(chǎn)品,EP Scan對信號網(wǎng)絡(luò)執(zhí)行電磁(EM)模擬,并報告SI度量,如信道返回和插入損耗。此外,EP Scan可以自動進行不同版本設(shè)計之間的性能比較,并生成模擬報告,在構(gòu)建昂貴的物理原型之前加快驗證。
EP掃描只需要PCB設(shè)計的布局幾何形狀和基板堆疊信息作為輸入。在工程師指定所需的網(wǎng)絡(luò)進行研究后,EP Scan會報告模擬結(jié)果,包括跡線的特性阻抗和延遲、回波損耗、插入損耗和阻抗時域反射計(TDR)。通過分析ODB++等常見的制造格式,EP Scan向工程師展示了他們在制造時的設(shè)計性能。EP Scan使硬件工程師能夠在最終驗證之前快速驗證設(shè)計并識別布局問題,這減少了上市時間,并有助于贏得更多的PCB設(shè)計勝利。

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