為了對硬件隨機(jī)失效進(jìn)行量化，引入了硬件隨機(jī)失效率λ，其定義為:

失效率是指元器件在單位時間內(nèi)發(fā)生失效的概率，記為λ，一般以小時(h)作為時間計量單位，所以其單位為: 次/h。

考慮到電子元器件失效率極低，所以一般采用FIT (Failures In Time) 來計量，1 FIT=1次失效/10^9 h。

例如: 某電阻失效率λ=2 FIT，即該電阻在10^9 h內(nèi)存在兩次失效。

不知道大家有沒有想過，既然電子元器件的失效和自身老化相關(guān)，那它的失效率為什么是常數(shù)，而不是隨時間變化的?

為了回答這個問題，我們先來看看電子元器件的生命周期特性。電子元器件的生命周期非常符合浴盆曲線(Bathtub Curve)，電子元器件整個生命周期大致可以分為三個階段:

第一階段: 早期故障期，即磨合期，該階段故障多屬于系統(tǒng)性故障，和設(shè)計，制造相關(guān)，故障率相對較高。

第二階段:?偶然故障期，即有用壽命期，該階段是電子元器件正常使用周期，持續(xù)時間長，失效率低且較穩(wěn)定，設(shè)計無法消除，屬于隨機(jī)硬件故障，ISO26262 中硬件量化指標(biāo)就是針對該階段失效率的評估。

第三階段: 耗損故障期，上隨著電子元器件使用壽命到期，故障率隨之上升。

因此，在ISO 26262中查到的是恒定值，而不是一個時間函數(shù)。

那么怎么獲取電子元器件的失效率呢？一般來講可以通過以下三種方式獲得:

1、歷史數(shù)據(jù): 根據(jù)已有或相似產(chǎn)品，預(yù)估新產(chǎn)品的失效率，但全新的產(chǎn)品沒有歷史數(shù)據(jù)可參考。

2‘測試: 屬于最真實(shí)和最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)來源。但測試周期長，成本高。

3、行業(yè)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn): 根據(jù)SN29500, IEC 62380等行業(yè)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)和指南中提供的可靠性預(yù)估算法計算。

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