在做掃描電子顯微鏡（SEM）測試時，科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對sem測試不太了解，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺團(tuán)隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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掃描電鏡以其超高的分辨率，良好的景深及簡易的操作等優(yōu)勢在材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、地礦學(xué)、考古學(xué)、食品學(xué)、微電子工業(yè)以及刑事偵查等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。它可以對組織進(jìn)行形貌分析，斷口分析，元素定性和定量分析以及晶體結(jié)構(gòu)分析，現(xiàn)將掃描電鏡在各領(lǐng)域的具體應(yīng)用總結(jié)如下。

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（1）納米材料：SEM可直接觀察納米材料的結(jié)構(gòu)，顆粒尺寸、分布、均勻度及團(tuán)聚情況，結(jié)合能譜還能對納米材料的微區(qū)成分進(jìn)行分析，確定納米材料的組成。利用SEM分析納米材料，可建立起納米材料種類、微觀形貌與宏觀性質(zhì)之間的聯(lián)系，對于改進(jìn)合成條件，制備出具有優(yōu)異性能的納米材料有很重要的指導(dǎo)意義。

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（2）高分子材料：SEM可直接觀察高分子材料（如均聚物、共聚物及共混物）的粒、塊、纖維、膜片及其制品的微觀形貌，粉體顆粒及纖維等增強(qiáng)材料在母體中的分散情況。另外，SEM還能觀察高分子材料在老化、疲勞、拉伸及扭轉(zhuǎn)等情形下斷口斷裂和擴(kuò)散的情況，為分析斷裂的起因，斷裂方式及機(jī)理提供幫助。

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（3）金屬材料：SEM可對金屬材料的微觀組織（如馬氏體、奧氏體、珠光體、鐵素體等）進(jìn)行顯微結(jié)構(gòu)及立體形態(tài)的分析。同時，SEM還可對金屬材料表面的磨損、腐蝕以及形變（如多晶位錯和滑移等）進(jìn)行分析；對金屬材料斷口形貌進(jìn)行觀察，揭示斷裂機(jī)理（解理斷裂、準(zhǔn)解理斷裂、韌窩斷裂、沿晶斷裂、疲勞斷裂）；對鋼鐵產(chǎn)品質(zhì)量和缺陷分析（如氣泡，顯微裂紋及顯微縮孔）。另外，SEM結(jié)合能譜可測定金屬及合金中各種元素的偏析，對金屬間化合物相、碳化物相、氮化物相及鈮化物相等進(jìn)行觀察和成分鑒定；對鋼鐵組織中晶界處夾雜物或第二相觀察以及成分鑒定；對零部件的失效分析（如畸變失效、斷裂失效、磨損失效和腐蝕失效）以及失效件表面的析出物和腐蝕產(chǎn)物的鑒別。此外，對于拋光后的金屬樣品，SEM結(jié)合EBSD可進(jìn)一步對晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行解析。

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（4）陶瓷材料：SEM可對陶瓷材料的原料，成品的顯微結(jié)構(gòu)及缺陷等進(jìn)行分析，觀察陶瓷材料中的晶相，晶體大小，雜質(zhì)，氣孔及孔隙分布情況，晶粒的取向以及晶粒的均勻度等情況。

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（5）生物材料：SEM可用于觀察生物活性鈦材料和生物陶瓷材料以及這些材料經(jīng)過特殊處理后的表面形貌以及羥基磷灰石或細(xì)胞在這些材料表面的生長情況。此外，SEM還能用于觀察水凝膠的空洞結(jié)構(gòu)，膠原的纖維結(jié)構(gòu)，人工骨的孔分布情況以及磁性生物顯影材料的尺度及包覆情況等，為改善合成工藝，制備性能優(yōu)異的生物材料提供依據(jù)。

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（6）通過對材料表面進(jìn)行處理（如沉積不同成分、形貌和厚度的膜層，對表面進(jìn)行光刻蝕等），能有效改善材料的硬度、光學(xué)等物理性能。利用SEM可觀察鍍膜的表面形貌、斷口膜層的形貌以及測量膜厚；可觀察樣品經(jīng)光刻蝕后的表面形貌等。

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