X射線(xiàn)熒光分析儀介紹

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? ? ? ?X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。

? ? ?用X射線(xiàn)照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線(xiàn)，需要把混合的X射線(xiàn)按波長(zhǎng)（或能量）分開(kāi)，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)（或能量）的X射線(xiàn)的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線(xiàn)熒光光譜儀。

　?X射線(xiàn)熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。?X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）具有干擾小、分析速度快、并且可以同時(shí)進(jìn)行多元素分析等優(yōu)點(diǎn)，是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測(cè)手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。

X射線(xiàn)熒光分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

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RoHS檢測(cè)：

有毒金屬檢測(cè)

廢舊金屬回收

貴金屬檢測(cè)

測(cè)試須知

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1.粉末樣品需提供3-5g，樣品粒度小于200目，完全烘干，送樣前請(qǐng)確保樣品量滿(mǎn)足要求；

2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需滿(mǎn)足3-5mm；

3.檢測(cè)單元表面盡量平整，整塊的固體樣品，當(dāng)樣品尺寸直徑在29mm~50mm，高度在30mm以下，可以直接測(cè)試。當(dāng)樣品尺寸直徑在24mm以下，高度在20mm以下，需放入樣品池后置入固體樣品盒，在真空環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。

4.粉末樣品可能會(huì)使用硼酸壓片；

5.有效元素測(cè)試范圍：13Ai~92U。

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