深度學(xué)習(xí)中的損失函數(shù)和指標(biāo):全面調(diào)研

53頁綜述，共計(jì)222篇文獻(xiàn)!本文旨在全面介紹最常見的深度學(xué)習(xí)任務(wù)(回歸分類/檢測(cè)/分割/人臉/圖像生成)中使用的不同損失函數(shù)和性能指標(biāo)，并幫助從業(yè)者選擇適合其特定任務(wù)的最佳方法

深度學(xué)習(xí)的重要組成部分之一是選擇用于訓(xùn)練和評(píng)估模型的損失函數(shù)和性能指標(biāo)。 本文回顧了深度學(xué)習(xí)中最流行的損失函數(shù)和性能指標(biāo)。研究了每種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)和局限性，并說明了它們?cè)诟鞣N深度學(xué)習(xí)問題中的應(yīng)用。本綜述旨在全面了解最常見的深度學(xué)習(xí)任務(wù)中使用的不同損失函數(shù)和性能指標(biāo)，并幫助從業(yè)者選擇適合其特定任務(wù)的最佳方法

論文地址：https://arxiv.org/abs/2307.02694

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