漏電起痕指數(shù)CTI

漏電起痕指數(shù)CTI也叫漏電起痕試驗(yàn)儀或漏電起痕試驗(yàn)機(jī),設(shè)備是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):GB 4706.1-2008、GB/T4207-2012、GB/T6553-2003、IEC60112 -2009《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
漏電起痕指數(shù)的原理是:在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的污染液體 (0.1%NH 4 CL) ,用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù) (PT1) 。

智能型漏電起痕試驗(yàn)儀是采用目前最先進(jìn)的PLC控制,做到智能化控制方式,有TFT真彩色液晶可選配, 可做到客戶的人性化操作界面的升級,真正達(dá)到國際比對結(jié)果。適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門,也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。

漏電起痕試驗(yàn)用鉑金電極是依據(jù)GB/T4207—2012《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比耐電痕化指數(shù)的測定方法》試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)。鉑金電極純度為99.9%,鉑金部分規(guī)格:2mm± 0.1mm(厚度)×5mm±0.1mm(寬度)× 12mm ± 5mm(長度), 接桿部分為紫銅(長約25mm,可定制),30°±2°斜面,斜面的刃近似為平面,用于固體材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定。
鉑金電極的區(qū)分:?
1、看電極頭的顏色,正宗的鉑金為白色,不會(huì)出現(xiàn)偏黃。
2、用手掂量電極的份量,電極放在手里面明顯感覺到鉑金頭的那邊偏重,銅質(zhì)的那頭偏輕(因?yàn)殂K金的比重是銅的兩倍)。
3、可以送檢至第三方檢測機(jī)構(gòu)來鑒定鉑金的長度和純度。
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