使用Labview國(guó)產(chǎn)替代軟件ATECLOUD快速測(cè)量電路板各種測(cè)試,測(cè)試參數(shù)越多越方便
經(jīng)常需要進(jìn)行電路板的各種參數(shù)的測(cè)量是電工人的必備技能之一,比如常見(jiàn)的參數(shù)測(cè)量如電壓信號(hào)、電流信號(hào)、功率、傳輸速率、上升時(shí)間等等。需要準(zhǔn)確的測(cè)量對(duì)應(yīng)的參數(shù)通常需要使用到示波器、數(shù)字分析儀等儀器。由于測(cè)量上升時(shí)間用示波器,測(cè)量誤碼率用專用的誤碼儀設(shè)備,測(cè)量傳輸速率用專門(mén)的串行數(shù)字分析儀設(shè)備。這樣就需要在不同的設(shè)備中反復(fù)調(diào)試測(cè)量,這樣連接的線束就更多了。所以有一臺(tái)自動(dòng)化的測(cè)試治具,就顯得難能可貴了。由于現(xiàn)在很多儀器都帶有GPIB接口,利用ATECLOUD的可視化編程方案就讓這一切成為了可能。
編譯基于ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)的上位機(jī)軟件,可遠(yuǎn)程控制程控儀器發(fā)送測(cè)試信號(hào)到電路板,然后控制儀器進(jìn)行數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)采集,存儲(chǔ)以及顯示,最終將測(cè)試數(shù)據(jù)和配置文件中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比對(duì),給出電路板性能參數(shù)是否合格的結(jié)論。
先上一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試工步流程圖,讓大家有個(gè)直觀的了解。

登陸成功后馬上就進(jìn)入到ATECLOUD的主控制界面,可以測(cè)試很多參數(shù),只要儀器上支持的測(cè)試項(xiàng)目,就都可以測(cè)量,并顯示和存儲(chǔ)到本地。下圖是軟件實(shí)際運(yùn)行中,測(cè)試運(yùn)行的內(nèi)容。下圖是實(shí)際測(cè)試中前面板下達(dá)發(fā)送“開(kāi)始測(cè)試”命令,測(cè)試儀器接收,然后自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量,數(shù)據(jù)回傳保存。


在這篇帖子里是完整介紹了,利用ATECLOUD通過(guò)接口控制程控儀器測(cè)試頻率、幅值、最大電平、占空比的全過(guò)程。
以此類推,示波器界面的電壓,電流,相位各種信息全部可以完成測(cè)試。同時(shí)上位機(jī)還可以發(fā)送截圖指令,將示波器當(dāng)前的測(cè)試波形也實(shí)時(shí)回傳到上位機(jī)的前面板界面,實(shí)現(xiàn)和示波器的同步觀測(cè)同步測(cè)量。
如果電路板的測(cè)試參數(shù)太多,示波器又只有四個(gè)channel,這個(gè)時(shí)候就需要多臺(tái)示波器測(cè)試,使用ATECLOUD的自動(dòng)化測(cè)試優(yōu)勢(shì)就太明顯,使用GPIB的級(jí)聯(lián)設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)多臺(tái)設(shè)備多參數(shù)的測(cè)試。將測(cè)試工裝架設(shè)好,測(cè)試人員剩下的工作就好更換測(cè)試電路板和操控PC機(jī),可以輕松高效的完成多個(gè)電路板的測(cè)試。
以后大家用到相應(yīng)的測(cè)試儀器時(shí)候,可以參考這個(gè)設(shè)置進(jìn)行配置,減少調(diào)試時(shí)間。整個(gè)軟件的開(kāi)發(fā)過(guò)程經(jīng)歷了短短幾天,后期顯著提高了測(cè)試效率,是非常值得的。
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