高低溫測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)及測試設(shè)備
高低溫測試又叫作高低溫循環(huán)測試,是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試中的一項(xiàng)?;旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存,或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化,時(shí)高時(shí)低。比如在有些溫差大的地區(qū)的白天黑夜。或者產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、運(yùn)行過程中反復(fù)進(jìn)出于高溫區(qū)、低溫區(qū)。這種高低溫環(huán)境高溫時(shí)可能會(huì)達(dá)到70°C度以上甚至更高,低溫時(shí)溫度可能會(huì)達(dá)到-20°C度以下甚至更低。這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響,會(huì)加速產(chǎn)品的老化,縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下,則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測試,以了解產(chǎn)品在這方面的性能,如測試結(jié)果達(dá)不到我們設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn),我們就要根據(jù)測試情況進(jìn)行產(chǎn)品改進(jìn),然后重新測試,直至合格。
高低溫測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A: 低溫》;
GB/T 2423.2 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B: 高溫》。
GB2423高低溫測試怎么做?
GB2423高低溫測試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測試。
測試前先檢查測試樣品的狀態(tài),外觀、功能、性能等是否正常,并拍照;然后,將樣品放入高低溫箱中,設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。
比如高溫70 °C下保持2小時(shí),然后從70 °C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20 °C,保持2小時(shí),再從-20 °C半小時(shí)內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán),測試20個(gè)循環(huán)。
測完后,拿出樣品,檢查測試后樣品的外觀、功能、性能等。
如發(fā)現(xiàn)樣品跟測試前相比無明顯變化,或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類,則表示測試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求,否則為不符合。
電子電器產(chǎn)品的高低溫測試分為高低溫存儲(chǔ)測試和高低溫運(yùn)行測試。
高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電,在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測試。
高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電,在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測試。
高低溫測試對(duì)測試的具體溫度、高溫和低溫各自保持的時(shí)間、升溫和降溫的時(shí)間、測多少個(gè)周期等沒有固定的標(biāo)準(zhǔn),委托方可以自己制定企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn),或按客戶要求制定測試條件。
制定測試條件時(shí)可參考產(chǎn)品實(shí)際的存儲(chǔ)環(huán)境、運(yùn)輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是-30至70°C,溫度保持時(shí)間2小時(shí)至8小時(shí)不等,變溫時(shí)長一般半小時(shí)以內(nèi),循環(huán)周期4至20個(gè)周期不等。
環(huán)境模擬可靠性檢測設(shè)備
電工電子產(chǎn)品的環(huán)境模擬可靠性檢測設(shè)備廣泛應(yīng)用于從原材料、元器件級(jí)別,到電路板/模塊級(jí)別,到整機(jī)電子、電器、電力等產(chǎn)品進(jìn)行恒定溫度,恒定濕度,變化溫度,變化溫濕度,鹽霧試驗(yàn),混合氣體試驗(yàn),臭氧老化試驗(yàn),UV紫外線加速老化試驗(yàn),氙燈老化試驗(yàn),二氧化硫腐蝕試驗(yàn),高空低氣壓試驗(yàn),IPX1~8防水等級(jí)試驗(yàn),防塵/砂塵試驗(yàn),跌落試驗(yàn),燃燒試驗(yàn),半正弦波/梯形波加速度沖擊試驗(yàn),正弦/隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn),碰撞模擬試驗(yàn),跌落試驗(yàn),拉伸強(qiáng)度試驗(yàn),疲勞試驗(yàn),地震試驗(yàn),高加速壽命老化及應(yīng)力篩選等機(jī)械、力學(xué)環(huán)境試驗(yàn),氣候環(huán)境試驗(yàn)和綜合環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目。

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱適用于電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領(lǐng)域必備的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行耐干、耐旱、耐寒、耐潮濕等試驗(yàn)溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.3-1986高溫試驗(yàn);
GJB150.4-1986低溫試驗(yàn);
IEC68-2-1試驗(yàn)A;寒冷(GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法);
IEC68-2-2試驗(yàn)B:干熱(GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法);
IEC60068-2-78試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn);
IEC68-2-30試驗(yàn)Db及導(dǎo)則:交變濕熱實(shí)驗(yàn)(GB/T2423.4-1993試驗(yàn)Cb:交變濕熱)等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。