GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—標(biāo)準(zhǔn)名稱

GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.1 Environmrntal testing for electric and electronic products-Part 2 :Test methods-Tests A: Cold

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GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—適用范圍

GB/T 2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

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GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—引用文件

GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則

GB/T 2422電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)

GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｎ：溫度變化

GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ａ和試驗(yàn)Ｂ（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量

IEC 60721（所有部分）環(huán)境條件分級(jí)

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