元器件常常會存在假冒偽劣產(chǎn)品，難以確保其質(zhì)量和可靠性，為了確保產(chǎn)品在正式投入應(yīng)用的時候排除存在可能性的元器件問題，需要對元器件進(jìn)行嚴(yán)格的篩選，如何進(jìn)行元器件的篩選呢，有哪些篩選的項目呢？

一、振動和沖擊試驗

對產(chǎn)品進(jìn)行振動和沖擊試驗，這項試驗意在模擬產(chǎn)品在使用的過程中會受到的振動、沖擊環(huán)境，能夠有效的在模擬過程中找到不良偽劣元器件的各種故障問題，發(fā)現(xiàn)元器件的虛焊、漏焊等多種故障，該項試驗對于一些精密電子設(shè)備來說是一項重要的篩選項目。

二、恒溫試驗

電子元器件的失效大多數(shù)的情況是因為其內(nèi)在的或表面的各種物理化學(xué)多種情況引發(fā)的，都與溫度有著多多少少的聯(lián)系。元器件在高溫的環(huán)境中，失效的進(jìn)程一會被加速，對應(yīng)的物理化學(xué)反應(yīng)的加速，使得其缺陷的元器件能夠及早的暴露出來，便于剔除。該項篩選常常應(yīng)用在半導(dǎo)體元器件上，通常會持續(xù)在高溫儲存1天到1周之久，能夠有效剔除譬如鍵合不良、氧化層缺陷等各種失效機(jī)理的元器件。通過高溫貯存后，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時間要適當(dāng)選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。

三、高低溫試驗

電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到各種不同的環(huán)境，在不同的環(huán)境條件下，會受到熱的冷的環(huán)境，在熱脹冷縮的作用之下，性能較差的元器件就會出現(xiàn)產(chǎn)生各種失效機(jī)理，因此能夠通過該種試驗來讓產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下的熱脹冷縮的變化，進(jìn)行產(chǎn)品的篩選，有效的剔除存在性能缺陷的產(chǎn)品，通常的元器件篩選溫度在-55℃至+125℃的環(huán)境下，循環(huán)試驗5-10次。

四、離心加速度試驗

離心加速度試驗又稱恒定應(yīng)力加速度試驗。這項篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行，把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強(qiáng)度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗一分鐘。

五、電性能試驗

各種電子元器件需要在額定功率條件下試驗數(shù)小時至一周時間。各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引入新的失效機(jī)理。在熱電應(yīng)力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個重要項目。

通過各項目的篩選也能夠幫助我們辨別產(chǎn)品的優(yōu)劣，防止我們購買到偽劣的元器件，影響到后續(xù)生產(chǎn)品的質(zhì)量。在經(jīng)過元器件篩選后的產(chǎn)品，產(chǎn)品的可靠性水平顯著提高，標(biāo)準(zhǔn)狀況下使用，產(chǎn)品會產(chǎn)生的失效率會大大降低，產(chǎn)生更為可觀的收益。