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介紹7種PCB板檢測(cè)的常用的x檢測(cè)設(shè)備及方法

2020-12-23 09:19 作者:日聯(lián)科技X射線  | 我要投稿

為了確保PCB板的生產(chǎn)質(zhì)量,制造商在生產(chǎn)過(guò)程中經(jīng)歷了多種檢查方法,每種檢查方法針對(duì)不同的PCB板缺陷。基本上可以分為兩類:電氣測(cè)試方法和視覺(jué)測(cè)試方法。

電氣測(cè)試通常測(cè)量測(cè)試點(diǎn)之間的阻抗特性,以檢測(cè)所有連續(xù)性(即開(kāi)路和短路)。目視測(cè)試通過(guò)目視檢查電子元件的特性和印刷電路的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷。查找短路或開(kāi)路缺陷時(shí),電氣測(cè)試更為準(zhǔn)確。視覺(jué)測(cè)試可以更容易地檢測(cè)出導(dǎo)體之間的不正確間隙。目視檢查通常在生產(chǎn)過(guò)程的早期進(jìn)行。嘗試找出缺陷并進(jìn)行修復(fù),以確保最高的產(chǎn)品合格率。

PCB板常見(jiàn)的檢查方法如下:

1.手動(dòng)目檢PCB板

使用放大鏡或已校準(zhǔn)的顯微鏡通過(guò)操作員的目視檢查確定電路板是否合格,并確定何時(shí)需要進(jìn)行校正操作。這是最傳統(tǒng)的檢查方法。它的主要優(yōu)點(diǎn)是初始成本低且沒(méi)有測(cè)試夾具,但主要缺點(diǎn)是主觀人為錯(cuò)誤,長(zhǎng)期成本高,缺陷檢測(cè)不連續(xù)以及數(shù)據(jù)收集困難。當(dāng)前,由于PCB生產(chǎn)的增加以及PCB上導(dǎo)線間距和元件體積的縮小,這種方法變得越來(lái)越不可行。

2. PCB板在線測(cè)試

通過(guò)電氣性能測(cè)試來(lái)識(shí)別制造缺陷,并測(cè)試模擬,數(shù)字和混合信號(hào)組件,以確保它們符合規(guī)格。測(cè)試方法有幾種,例如針床測(cè)試儀和飛針測(cè)試儀。主要優(yōu)點(diǎn)是每塊板的測(cè)試成本低,強(qiáng)大的數(shù)字和功能測(cè)試功能,快速?gòu)氐椎亩搪泛烷_(kāi)路測(cè)試,編程固件,高缺陷覆蓋率以及易于編程。主要缺點(diǎn)是需要測(cè)試夾具,編程和調(diào)試時(shí)間,夾具制造成本高以及難以使用。

3. PCB板功能測(cè)試

功能系統(tǒng)測(cè)試是在生產(chǎn)線的中間階段和末端使用專用測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板功能模塊進(jìn)行的全面測(cè)試,以確認(rèn)電路板的質(zhì)量。功能測(cè)試可以說(shuō)是最早的自動(dòng)測(cè)試原理。它基于特定的板或特定的單元,并且可以使用各種設(shè)備來(lái)完成。有最終產(chǎn)品測(cè)試,最新物理模型和堆棧測(cè)試。功能測(cè)試通常不提供深入的數(shù)據(jù)(例如,引腳位置和組件級(jí)診斷)來(lái)改善過(guò)程,而是需要特殊的設(shè)備和經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)的測(cè)試程序。編寫(xiě)功能測(cè)試程序非常復(fù)雜,因此不適用于大多數(shù)電路板生產(chǎn)線。

4.自動(dòng)光學(xué)檢查

它也被稱為自動(dòng)外觀檢查,它基于光學(xué)原理,并且全面使用圖像分析,計(jì)算機(jī)和自動(dòng)控制技術(shù)來(lái)檢測(cè)和處理生產(chǎn)中遇到的缺陷。這是一種識(shí)別制造缺陷的相對(duì)較新的方法。?AOI通常在回流之前和之后以及電氣測(cè)試之前使用,以提高電氣處理或功能測(cè)試的合格率。此時(shí),糾正缺陷的成本要比最終測(cè)試后的成本低很多,通常是十倍以上。

5.自動(dòng)X射線檢查

使用不同物質(zhì)在X射線吸收率上的差異來(lái)檢查要測(cè)試的零件并查找缺陷。它主要用于檢測(cè)超細(xì)間距和超高密度電路板中的缺陷,以及在組裝過(guò)程中產(chǎn)生的電橋,芯片缺失,對(duì)準(zhǔn)不良以及其他缺陷。它也可以使用層析成像技術(shù)檢測(cè)IC芯片中的內(nèi)部缺陷。這是測(cè)試球柵陣列和焊錫球焊接質(zhì)量的唯一方法。主要優(yōu)點(diǎn)是無(wú)需花費(fèi)固定裝置即可檢測(cè)BGA焊接質(zhì)量和嵌入式組件的能力。這是一個(gè)相對(duì)較新的測(cè)試方法,效果顯著。

6.激光檢測(cè)系統(tǒng)

這是PCB測(cè)試技術(shù)的最新發(fā)展。它用激光束掃描印制板,收集所有測(cè)量數(shù)據(jù),并將實(shí)際測(cè)量值與預(yù)設(shè)的合格極限值進(jìn)行比較。該技術(shù)已經(jīng)在裸板上進(jìn)行了驗(yàn)證,正在考慮用于組裝板測(cè)試。該速度對(duì)于批量生產(chǎn)線是足夠的??焖俚妮敵觯瑹o(wú)固定裝置和無(wú)障礙的視覺(jué)訪問(wèn)是其主要優(yōu)勢(shì);初始成本高,維護(hù)和使用問(wèn)題是其主要缺點(diǎn)。

7.尺寸檢查

使用二維圖像測(cè)量?jī)x器測(cè)量孔的位置,長(zhǎng)度和寬度,位置以及其他尺寸。由于PCB是小的,薄而柔軟的產(chǎn)品,因此接觸測(cè)量很容易變形,從而導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。二維圖像測(cè)量?jī)x已成為最好的高精度尺寸測(cè)量?jī)x。圖像測(cè)量?jī)x可在編程后實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量,不僅測(cè)量精度高,而且大大縮短了測(cè)量時(shí)間,提高了測(cè)量效率。

綜上7種檢測(cè)方法,目前市場(chǎng)上還是光學(xué)檢查,和X射線檢查最受歡迎。

介紹7種PCB板檢測(cè)的常用的x檢測(cè)設(shè)備及方法的評(píng)論 (共 條)

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