測試的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)有同學(xué)送的待測樣品是一團(tuán)晶簇（多顆晶體堆積生長在一起），在儀器攝像頭中如圖1–2所示，不過好在該晶簇底座是在晶體載具上（晶體安裝請(qǐng)見推文“晶體載具和晶體安裝”），晶簇中有一根主晶體豎直向上，如圖3所示，因此在進(jìn)行晶體對(duì)心（Center?Crystal）時(shí)，將主晶體尖端部分調(diào)整至畫面中心，如圖4所示。

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該晶簇中主晶體實(shí)際上還是很大顆的，所以其實(shí)正確的做法應(yīng)當(dāng)是將該晶簇取下，將尖端沒有其他小晶體附著的部分切割下來進(jìn)行單獨(dú)安裝測試，不過由于該晶體不是筆者所有，所以也不好對(duì)其進(jìn)行切割操作，萬一沒切好可就完球了。所以就采取了晶體對(duì)心時(shí)調(diào)整對(duì)心位置的方式以嘗試解決該問題。所幸結(jié)果不錯(cuò)，其衍射圖樣如圖5所示。

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最終數(shù)據(jù)如圖6所示。

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也沒有AB級(jí)警報(bào)，如圖7所示。

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結(jié)語

實(shí)際上對(duì)于晶簇，應(yīng)當(dāng)對(duì)其進(jìn)行切割，以找出其中的單晶進(jìn)行測試。如果把一團(tuán)晶簇拿來測試，那么測得的數(shù)據(jù)將難以處理，甚至無法處理。當(dāng)然，如果晶簇中有某個(gè)晶體伸出較長，則可嘗試本文中的方法，也許可以得到可用的數(shù)據(jù)。