當(dāng)下微控制器芯片(MCU)在生活中的應(yīng)用非常廣泛，各種家電設(shè)備、消費(fèi)電子、工業(yè)和車(chē)載電子幾乎都離不開(kāi)MCU芯片。但工業(yè)級(jí)MCU與消費(fèi)級(jí)MCU最大的區(qū)別是品質(zhì)要求不同：前者對(duì)產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性、一致性要求更高，需要更強(qiáng)的抗靜電能力、更優(yōu)的抗浪涌電壓與浪涌電流能力、更寬的工作溫度范圍、以及更長(zhǎng)的使用壽命。

一、工作溫度范圍更寬
一般而言，消費(fèi)級(jí)MCU只要保證0℃至70℃能正常工作即可過(guò)關(guān)。但所有GD32 MCU產(chǎn)品均為工業(yè)級(jí)-40℃至85℃，并可擴(kuò)展至105℃。車(chē)規(guī)級(jí)可承受工作溫度范圍為-40℃至125℃。且在此條件下芯片可以穩(wěn)定工作10年至15年以上，以避免出現(xiàn)嚴(yán)重問(wèn)題導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)停機(jī)。
二、優(yōu)異的靜電防護(hù)(ESD)和高抗干擾性
靜電放電通常被認(rèn)為是電子產(chǎn)品質(zhì)量最大的潛在殺手。因此，靜電防護(hù)自然也成為電子產(chǎn)品質(zhì)量控制的一項(xiàng)重要內(nèi)容，相關(guān)產(chǎn)品在靜電防護(hù)設(shè)計(jì)上的差異體現(xiàn)了企業(yè)的定位與可靠性設(shè)計(jì)水平。
三、失效率更低
高品質(zhì)MCU主要應(yīng)用于工控、家電、汽車(chē)領(lǐng)域，由于產(chǎn)品迭代周期長(zhǎng)，對(duì)芯片質(zhì)量要求很高。失效率通常要低于100ppm，遠(yuǎn)超普通消費(fèi)級(jí)MCU標(biāo)準(zhǔn)。并融入功能安全設(shè)計(jì)理念，支持過(guò)流過(guò)壓等功能性保護(hù)和加密糾錯(cuò)等安全功能。
四、出色的穩(wěn)定性和一致性
在嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)體系管理下，確保同一批次產(chǎn)品在出廠時(shí)具備同樣的穩(wěn)定性和一致性，以確保產(chǎn)品在任何復(fù)雜惡劣應(yīng)用場(chǎng)景下都能夠穩(wěn)定工作。在開(kāi)發(fā)、制造、儲(chǔ)運(yùn)、到客戶端應(yīng)用等階段，鴻怡電子研發(fā)生產(chǎn)的針對(duì)各封裝MCU芯片測(cè)試座可以對(duì)MCU性能缺陷進(jìn)行測(cè)試診斷，各封裝老化座可以對(duì)MCU芯片進(jìn)行嚴(yán)苛的老煉試驗(yàn)，進(jìn)而提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。

常見(jiàn)的MCU芯片封裝一般為QFP、QFN、SOP等，鴻怡電子針對(duì)以上封裝的MCU芯片測(cè)試座、老化座具有能承受-55-155度的高低溫循環(huán)老煉測(cè)試，更可滿足嚴(yán)苛的車(chē)規(guī)級(jí)測(cè)試。針對(duì)非標(biāo)的MCU芯片更可一件起定制IC測(cè)試座。讓您的MCU芯片測(cè)試更方便快捷。